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  1. Yin, Gung-Chian ; Wang, Duan-Jen ; et al.
    In: Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics IX, 2020-08-21
    Online unknown
  2. Hamano, Fuminobu ; Nakamura, Daisuke ; et al.
    In: Laser-based Micro- and Nanoprocessing XIV, 2020-01-22
    Online unknown
  3. Hsu, Ming-Ying ; Wang, Duan-Jen ; et al.
    In: Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VIII, 2019-09-09
    Online unknown
  4. Baur, Holger ; Pfau, Tilman ; et al.
    In: Quantum Technologies 2018, 2018-05-21
    Online unknown
  5. Smith, Brian V. ; Centers, Gary ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2016-09-08
    Online unknown
  6. Wang, Pei-Yun ; Chou, Cheng-Wei ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2013-09-27
    Online unknown
  7. Barber, Samuel K. ; Anders, Mark ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2010-08-19
    Online unknown
  8. Morrison, Gregory Y. ; Smith, Brian V. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2008-08-28
    Online unknown
  9. Huang, Zufang ; Teng, Zhong-jian ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2011-11-19
    Online unknown
  10. Merthe, Daniel J. ; McKinney, Wayne R. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2011-09-08
    Online unknown
  11. Herbst, Ludolf ; Simon, Frank ; et al.
    In: Photon Processing in Microelectronics and Photonics V, 2006-02-09
    Online unknown
  12. Duan Jen Wang ; Qian, Shinan
    In: Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics, 2005-08-18
    Online unknown
  13. Qian, Shinan ; Wang, Qiuping ; et al.
    In: Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics, 2005-08-18
    Online unknown
  14. Yamagata, Yutaka ; Takács, Péter ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2004-01-05
    Online unknown
  15. Sostero, Giovanni ; Cocco, Daniele ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2002-12-01
    Online unknown
  16. Polack, François ; Brochet, Sylvain ; et al.
    In: Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics, 2005-08-18
    Online unknown
  17. Cocco, D. ; Sostero, Giovanni ; et al.
    In: Advances in X-Ray Optics, 2001-01-05
    Online unknown
  18. Chen, Shang-Li ; Shih, Jun-Ren ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2000-06-30
    Online unknown
  19. Yun, Wenbing ; Takács, Péter ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1998-11-13
    Online unknown
  20. Lacey, Ian ; Anderson, Kevan ; et al.
    In: Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics IX, 2020-08-21
    Online unknown
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sm 576 - 768
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