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    Single-pixel UV image sensor based on 4H-SiC CMOS technology with gamma-ray irradiation resistance
    Kuwana, Ryo ; Toriyabe, Yu ; et al.
    In: Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XIV, 2021-03-05
    Online unknown
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    CMOS active pixel sensor with adjustable sensitivity using MOSFET-type photodetector with a built-in transfer gate
    Kwen, Hyeunwoo ; Kim, Sang-Hwan ; et al.
    In: Photonic Instrumentation Engineering VII, 2020-03-02
    Online unknown
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    Can photonic-CMOS quantum cascade lasers with built-in nonlinear optics replace multiple quantum well diode-based QCLs? Analysis of performance advantages and future outlook
    Pan, James N.
    In: Novel In-Plane Semiconductor Lasers XX, 2021-03-05
    Online unknown
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    Optimization of linear-logarithmic CMOS image sensor using a photogate and a cascode MOSFET for reducing pixel response variation
    Oh, Chang-Woo ; Choi, Byoung-Soo ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-02-20
    Online unknown
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    Can nonlinear optoelectronic CMOS VCSEL replace semiconductor diode-based VCSEL? Comparison of performance, integration, cost of manufacturing, and applications
    Pan, James N.
    In: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers XXV, 2021-03-05
    Online unknown
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    T-ray detection in 0.35-μm CMOS technology
    Sacco, Andrew P. ; Bocko, Mark F. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2014-05-21
    Online unknown
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    Parasitic bipolar effect in modern SOI CMOS technologies
    Vasilegin, B. V. ; Zebrev, G. I. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2008-03-03
    Online unknown
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    Design and coupled-effect simulations of CMOS micro gas sensors built on SOI thin membranes
    Tsai, T. H. ; Setiadi, D. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2001-04-05
    Online unknown
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    SPICE Level 3 and BSIM3v3.1 characterization of monolithic integrated CMOS-MEMS devices
    Hewlett, F. W. ; Smith, James H. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1998-09-01
    Online unknown
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    An overview of low-frequency noise in advanced CMOS/SOI transistors
    Balestra, Francis ; Jomaah, Jalal
    In: SPIE Proceedings, 2003-05-12
    Online unknown
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    Optical sources, integrated optical detectors, and optical waveguides in standard silicon CMOS integrated circuitry
    Maree, Petrus ; Bogalecki, Alfons W. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2000-03-15
    Online unknown
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    Advanced rf CMOS technology
    Yoshitomi, Takashi ; Inoh, K. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1999-09-29
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Prediction of CMOS transistor performance at 0.10-μm gate length using tuned simulations
    Nandakumar, Mahalingam ; Rodder, Mark S. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1997-08-27
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Device modeling for high-speed three-dimensional CMOS/SOI integrated circuits
    Petrosjanc, Konstantin O. ; Sicheva, Maria V.
    In: SPIE Proceedings, 1992-08-01
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Development of a CMOS-compatible process for a silicon miniature microphone with high sensitivity
    Liu, Litian ; Tan, Zhimin ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2001-09-14
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Optical computing with photonic CMOSFETs: A new way to look into process integration, circuit, and layout designs for next generation ULSI or mixed-signal ASICs
    Pan, James N.
    In: Nanoengineering: Fabrication, Properties, Optics, Thin Films, and Devices XVII, 2020-08-21
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    High-sensitivity active pixel sensor with variable threshold photodetector
    Jo, Sung-Hyun ; Bae, Myunghan ; et al.
    In: Image Sensing Technologies: Materials, Devices, Systems, and Applications II, 2015-05-13
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Measurement of high-k and metal film thickness on FinFET sidewalls using scatterometry
    Thaddeus Gerard Dziura ; Price, J. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2008-03-14
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    How small can MOSFETs get?
    Risch, Lothar
    In: SPIE Proceedings, 2001-10-15
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Logic device scaling trend in ITRS 2007
    Imai, Kiyotaka
    In: SPIE Proceedings, 2008-05-30
    Online unknown
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