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    Performance analysis of high-accuracy CMOS sample-and-hold circuits [5274-32] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Le, H. P. ; Zayegh, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 269-276
    Konferenz
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    Gate-leakage-tolerant circuits in deep sub-100-nm CMOS technologies (Invited Paper) [5274-06] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Kang, S. M. ; Yang, G. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 56-66
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 64 x 64 CMOS digital pixel array based on pulse-width analog-to-digital conversion with on-chip linearizing circuit [5274-20] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Kitchen, A. J. ; Bermak, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 163-171
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Sub-5.5 FO4 delay CMOS 64-bit domino/threshold logic adder design [5274-49] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Celinski, P. ; Cotofana, S. D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 379-389
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    On-chip skin color detection using a triple-well CMOS process [5274-24] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Boussaid, F. ; Chai, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 206-214
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    High-speed high-sensitivity low-noise scientific CMOS image sensors [5274-23] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Kleinfelder, S.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 194-205
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A tri-mode 802.11 baseband PHY mixed signal integrated circuit in 0.13-mum CMOS [5274-16] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Ryan, P. J. ; Hart, B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 130-136
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Integrated CMOS RF building blocks for 433-MHz sensor systems [5274-05] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    McCarthy, A. J. ; Thiel, D. V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 47-55
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 1-GHz differential second-order low-pass sigma-delta modulator in CMOS for wireless receivers [5274-03] : Microelectronics: design, technology, and packaging
    Zhu, Y. ; Al-Sarawi, S. F. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5274 (2004), S. 35-46
    Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Novel low-temperature CMOS-compatible full-wafer-bonding process for the fabrication of 3D embedded microchannels using SU-8 (Invited Paper) [5276-17] : Device and process technologies for MEMS, microelectronics and photonics III
    Blanco, F. J. ; Agirregabiria, M. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5276 (2004), S. 131-142
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Battery-Less Wireless System using Ambient Heat with a Low-Voltage CMOS/SOI DC-DC Converter : International symposium on microelectronics
    Yoshida, Y. ; Utsunomiya, F. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5288 (2003), S. 538-543
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Time-domain non-Monte-Carlo method for noise simulation in CMOS imager sensors [4761-31] : Photonics for transportation
    Gourary, M. M. ; Rusakov, S. G. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4761 (2001), S. 206-214
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Analytical models of CMOS APS [4761-28] : Photonics for transportation
    Shilin, V. A. ; Skrylev, P. A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4761 (2001), S. 176-187
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Monolithic adaptively biased micropower CMOS variable gain amplifier [4228-23] : Design, modeling, and simulation in microelectronics
    Rana, R. S.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4228 (2000), S. 177-184
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Advanced rf CMOS technology [3891-399] : Education in microelectronics and MEMS
    Iwai, H. ; Ohguro, T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 3894 (1999), S. 10-21
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Advanced rf CMOS technology [3891-399] : Device and process technologies for MEMS and microelectronics
    Iwai, H. ; Ohguro, T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 3892 (1999), S. 10-21
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Optimization criteria of CMOS-compatible thermopile sensors [3893-04] : Design, characterization, and packaging for MEMS and microelectronics
    Du, C. H. ; Lee, C.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 3893 (1999), S. 116-126
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Advanced rf CMOS technology [3891-399] : Design, characterization, and packaging for MEMS and microelectronics
    Iwai, H. ; Ohguro, T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 3893 (1999), S. 10-21
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Monolithic iMEMS design with CMOS/SOI microcontroller and intelligent pressure sensor [3242-49] : Smart electronics and MEMS
    Lee, M. M. O. ; Moon, Y. H.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, , Heft E 3242, S. 290-303
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Inspection of defects and metallic contamination in SiGe:B CMOS using an in-line photoluminescence monitor [6106A-57] : Photon processing in microelectronics and photonics
    Liao, C. I. ; Buczkowski, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6106 (2006), S. 61061H
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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