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  1. KERCEL, S. W ; KLEIN, M. B ; et al.
    In: Wavelet applications VII (Orlando FL, 26-28 April 2000), 2000, S. 308-317
    Konferenz
  2. LAFOND, E. F ; GERHARDSTEIN, J. P ; et al.
    In: Process control and sensors for manufacturing II (Newport Beach, 3-4 March 1999), 1999, S. 30-41
    Konferenz
  3. Bacher, G. D. ; Kercel, S. W. ; et al.
    In: Photonics East, Boston, MA (US), 09/19/1999--09/22/1999, 1999
    academicJournal
  4. Klein, Marvin B. ; Kercel, Stephen W. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2000-03-30
    Online unknown
  5. Bacher, G.D. ; Klein, Marvin B. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1999-12-08
    Online unknown
  6. Joseph Peter Gerhardstein ; Lafond, Emmanuel ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1999-02-04
    Online unknown
  7. Addison, Robert C. ; McKie, Andrew D. W.
    In: SPIE Proceedings, 1998-03-31
    Online unknown
  8. Jan Drewes Achenbach ; J. Scott Steckenrider ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1997-03-20
    Online unknown
  9. ENOKI, M ; NISHINOIRI, S
    In: International conference on experimental mechanics &, 2005
    Konferenz
  10. Enoki, Manabu ; Nishinoiri, S.
    In: SPIE Proceedings, 2005-04-12
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -