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  1. Baier, N. ; Gravrand, O. ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12534 (2023), S. 1253413
    Konferenz
  2. Bustillos Vasco, S. ; Baier, N. ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12534 (2023), S. 1253412
    Konferenz
  3. Asici, Burak ; Korkmaz, Melih ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12534 (2023), S. 125340T
    Konferenz
  4. Dinand, Ségolène ; Deborniol, Eric ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12534 (2023), S. 125340P
    Konferenz
  5. Greenen, Adam ; Bains, Sudesh ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12107 (2022), S. 121070W
    Konferenz
  6. Ozer, Yigit ; Demircioglu, Olgu ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12107 (2022), S. 121070X
    Konferenz
  7. Lutz, Holger ; Breiter, Rainer ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12107 (2022), S. 121070T
    Konferenz
  8. Gravrand, Olivier ; Lobre, Clément ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 12107 (2022), S. 1210706
    Konferenz
  9. Bounab, Ayoub ; Boulade, Olivier ; et al.
    In: SPIE Proceedings ; X-ray, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy IX ; https://hal.science/hal-03322159 ; X-ray, 2020
    Online Konferenz
  10. Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Konferenz
  11. Jiménez, Jorge ; Padilla, Cristobal ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11451 (2020), S. 114513M
    Konferenz
  12. Crouzet, P. E. ; Tetaud, S. ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11454 (2020), S. 114542N
    Konferenz
  13. Bounab, A. ; Boulade, O. ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11454 (2020), S. 1145428
    Konferenz
  14. Höhnemann, Holger ; Hanna, Stefan ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11180 (2019), S. 111806G
    Konferenz
  15. SAVITSKY, V ; MANSUROV, L ; et al.
    In: Epilayers and heterostructures in optoelectronics and semiconductor technology (Zakopane, 12-16 October 1998), 1999, S. 299-303
    Konferenz
  16. Parahyba, Victor E. S. ; de Borniol, Eric ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11180 (2019), S. 111802K
    Konferenz
  17. Li, Sijie ; Liu, Heng
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11179 (2019), S. 111790G
    Konferenz
  18. Asici, Burak ; San, Ayse ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11002 (2019), S. 110021A
    Konferenz
  19. McEwen, R. Kennedy ; Hipwood, Les ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11002 (2019), S. 1100218
    Konferenz
  20. Figgemeier, Heinrich ; Ames, Christopher ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, Jg. 11002 (2019), S. 1100217
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -