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8 Treffer

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    ICA-ResNet-based signal detection and optimal power allocation for CRN-NOMA system.
    M.S., Ananth Kumar
    In: Proceedings of SPIE, Jg. 12616 (2023-08-07), S. 1261607-1261607
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Performance analysis for a single-channel CRN with prioritized primary users.
    Zhao, Yuan ; Xiang, Zhiyu ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, Jg. 12178 (2022-05-26), S. 1217816-1217816
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Influence of helicon discharge treatment on ensuring adhesive strength of protective PVD coating CrN on brass-based forms of intaglio printing.
    Rudenko, E. ; Kyrychok, T. ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, Jg. 12126 (2022-04-03), S. 1212615-1212615
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Development of low damage mask making process on EUV mask with thin CrN buffer layer.
    Kureishi, Mitsuhiro ; Ohkubo, Ryo ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, 2005-11-01, Heft 1, S. 158-167
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optical investigations of Cr and CrN layers obtained by magnetron sputtering in ion-beam-assisted deposition process (IBAD).
    Oleszkiewicz, Waldemar ; Oleszkiewicz, Ewa ; et al.
    In: Proceedings of SPIE, 1999-11-01, Heft 1, S. 423-428
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation of TiN and CrN surface coatings with laser-supported thermography.
    Radtke, Uwe ; Crostack, Horst-Artur
    In: Proceedings of SPIE, 1996-11-01, Heft 1, S. 29-36
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Rayleigh and Brillouin self-heterodyne detection Brillouin optical time domain reflectometer system based on phase shift keying pulse encoding.
    Wang, Lei ; Li, Yongqian ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 63 (2024-03-01), Heft 3, S. 36106-36106
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Partide contamination effects in extreme ultraviolet lithography: enhanced theory for the analytical determination of critical particle sizes.
    Brandstetter, Gerd ; Govindjee, Sanjay
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS & MOEMS, Jg. 11 (2012-04-01), Heft 2, S. 1-8
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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