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    Design and simulation of thermal actuators for STM applications in a standard CMOS process [3675-02] : Materials and Device Characterization in Micromachining II
    Eagle, S. ; Lakdawala, H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3875, S. 32-39
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Standard postprocessing technique for fabrication of large microsuspended structures in CMOS [3874-15] : Micromachining and Microfabrication Process Technology V
    Ghodsian, B. ; Milanovic, V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3874, S. 120-128
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Characterization and reliability of CMOS microstructures (Invited Paper) [3880-17] : MEMS Reliability for Critical and Space Applications
    Fedder, G. K. ; Blanton, R. D.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3880, S. 132-139
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Various layouts of analog CMOS optical position-sensitive detectors [3794-31] : Materials and Electronics for High-Speed and Infrared Detectors
    DeLimaMonteiro, D. W. ; Vdovin, G. V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3794, S. 134-142
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    High-performance 480 x 12 x 4 linear CMOS IR multiplexer [3794-30] : Materials and Electronics for High-Speed and Infrared Detectors
    Walmsley, C. F. ; Beystrum, T. R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3794, S. 122-133
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Stress-induced leakage currents of CMOS ULSI devices with shallow trench isolation [3881-26] : Microelectronic Device Technology III
    Sundaresan, R. ; Gan, C. H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3881, S. 224-233
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Mainstreaming SOI CMOS technology [3881-300] : Process, Equipment, and Materials Control in Integrated Circuit Manufacturing V
    Shahidi, G. G.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3882, S. 15-23
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Performance of submicron CMOS device and logic gates with substrate biasing [3881-16] : Microelectronic Device Technology III
    Liu, X. ; Mourad, S.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3881, S. 145-151
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Mismatch characterization and modelization of deep submicron CMOS transistors [3881-13] : Microelectronic Device Technology III
    Thibieroz, H. ; Duvallet, A.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3881, S. 121-128
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Metal gates for advanced CMOS technology (Invited Paper) [3881-03] : Microelectronic Device Technology III
    Maiti, B. ; Tobin, P. J.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3881, S. 46-57
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Mainstreaming SOI CMOS technology [3881-300] : Microelectronic Device Technology III
    Shahidi, G. G.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3881, S. 15-23
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Integration of a high-Q spiral inductor into an existing digital CMOS backend [3883-11] : Multilevel Interconnect Technology III
    Butler, J. D. ; Crouch, C.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3883, S. 70-76
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Mainstreaming SOI CMOS technology [3881-300] : Multilevel Interconnect Technology III
    Shahidi, G. G.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3883, S. 15-23
    serialPeriodical
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    Identification of amorphous silicon residues in a low-power CMOS technology [3884-21] : In-Line Methods and Monitors for Process and Yield Improvement
    Acovic, A. ; Buffat, P. A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3884, S. 256-264
    serialPeriodical
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Mainstreaming SOI CMOS technology [3881-300] : In-Line Methods and Monitors for Process and Yield Improvement
    Shahidi, G. G.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3884, S. 15-23
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Binary deposition method using standard CMOS structural layers to fabricate optical gratings and microlenses [3740-107] : Optical Engineering for Sensing and Nanotechnology (ICOSN '99)
    Yang, L. J. ; Liu, P. C. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3740, S. 438-441
    serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Experimental evaluation of CCD and CMOS cameras in low-light-level conditions [3827-11] : Diagnostic Imaging Technologies and Industrial Applications
    Laitinen, J. ; Ailisto, H. J.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3827, S. 60-65
    serialPeriodical
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    Discrimination of volatile organic compounds using CMOS capacitive chemical microsensors with thickness-adjusted polymer coating [3673-39] : Smart Electronics and MEMS
    Koll, A. ; Kummer, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3673, S. 308-317
    serialPeriodical
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    On-chip circuitry for a CMOS parallel scanning AFM [3673-30] : Smart Electronics and MEMS
    Hagleitner, C. ; Lange, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3673, S. 240-248
    serialPeriodical
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    Digital-readout CMOS design for capacitive sensors using on-chip variable sense capacitor arrays [3673-04] : Smart Electronics and MEMS
    Srivastava, A. ; Yong, H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3673, S. 93-103
    serialPeriodical
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xs 0 - 576
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xl 1200 - 1366
xxl 1366 -