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  1. Yin, Haizhou ; Zhong, Huicai ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 40, Heft 7, S. 1584-1612
    Online unknown
  2. Dirican, Aydin ; Margala, Martin ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 32, Heft 2, S. 227-233
    Online unknown
  3. Lai, Xinquan ; Short, Michael ; et al.
    In: Journal of Computational Electronics, Jg. 15, Heft 3, S. 1017-1022
    Online unknown
  4. Tanya M. Wolffenbuttel Hosli ; Wolffenbuttel, Reinoud F.
    In: Microsystem Technologies, Jg. 22, Heft 7, S. 1549-1555
    Online unknown
  5. Tsai, Tsung-Yen ; Roberts, Gordon W. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing, Jg. 28, Heft 5, S. 625-640
    Online unknown
  6. Momeni, Amir ; Navi, Keivan ; et al.
    In: Nano-Micro Letters, Jg. 2, Heft 2, S. 114-120
    Online unknown
  7. Alibakhshikenari, Mohammad ; Virdee, Bal S. ; et al.
    2020
    Online academicJournal
  8. Dupret, Antoine ; Verdant, Arnaud ; et al.
    In: EURASIP Journal on Image and Video Processing, Jg. 2011, S. 1-13
    Online unknown
  9. Chen, Hun-Chen ; Huang, Lin-Chieh ; et al.
    In: EURASIP Journal on Advances in Signal Processing, Jg. 2003, Heft 13, S. 1291-1305
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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