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    The microstructure, leakage current and dielectric behaviors of (Nd,Ti)-codoped BiFeO thin films: effect of deposited substrate.
    Yang, C. ; Lv, P. ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Jg. 28 (2017-02-15), Heft 4, S. 3423-3427
    Online academicJournal
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    X-ray diffraction, atomic force microscopy and raman spectroscopy studies of microstructure of BiFeO thin films on Pt/Ti/SiO/Si (111) substrates.
    Fan, Fei ; Luo, Bingcheng ; et al.
    In: Journal of Applied Spectroscopy, Jg. 80 (2013-07-01), Heft 3, S. 378-383
    Online academicJournal
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    Electro-optic properties of epitaxial Sr<subscript>0.6</subscript>Ba<subscript>0.4</subscript>Nb<subscript>2</subscript>O<subscript>6</subscript> films grown on MgO substrates using Li<subscript>x</subscript>Ni<subscript>2-x</subscript>O buffer layer.
    Li, X.T. ; Du, P.Y. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 92 (2008-08-01), Heft 2, S. 397-400
    Online academicJournal
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    Enhanced dielectric and piezoelectric properties of (100) oriented BiNaTiO-BaTiO-SrTiO thin films.
    Li, Wei ; Xu, Zhijun ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Jg. 27 (2016-09-01), Heft 9, S. 8911-8915
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    Phase Diagrams of Refractory Oxide Systems and Microstructural Design of Materials.
    Dudnik, E. ; Lakiza, S. ; et al.
    In: Powder Metallurgy & Metal Ceramics, Jg. 53 (2014-09-01), Heft 5/6, S. 303-311
    Online academicJournal
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sm 576 - 768
md 768 - 992
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