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    In Situ ESD Protection Structure for Variable Operating Voltage Interface Applications in 28-nm CMOS Process
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2014
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Study Of Nanoscale Cmos Device And Circuit Reliability
    Yu, Chuanzhao
    In: Electronic Theses and Dissertations, 2006
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Low-power CMOS wireless MEMS motion sensor for physiological activity monitoring
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2005
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Low Power Cmos Circuit Design And Reliability Analysis For Wireless Me
    Sadat, Md Anwar
    In: Electronic Theses and Dissertations, 2004
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    CMOS device and circuit degradations subject to HfO2 gate breakdown and transient charge-trapping effect
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2007
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design and integration of novel SCR-based devices for ESD protection in CMOS/BiCMOS technologies
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2005
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    RF circuit performance degradation due to soft breakdown and hot-carrier effect in deep-submicrometer CMOS technology
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2001
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Study Of Nanoscale Cmos Device And Circuit Reliability
    Yu, Chuanzhao
    In: Electronic Theses and Dissertations
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Low Power Cmos Circuit Design And Reliability Analysis For Wireless Me
    Sadat, Md Anwar
    In: Electronic Theses and Dissertations
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Compact failure modeling for devices subject to electrostatic discharge stresses - A review pertinent to CMOS reliability simulation
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design And Simulation Of Cmos Active Mixers
    Gibson, Allen
    In: Electronic Theses and Dissertations, 2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Study Of Gate Oxide Breakdown And Hot Electron Effect On Cmos Circuit Performances
    Ma, Jun
    In: Electronic Theses and Dissertations, 2009
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A 20-V CMOS-based monolithic bidirectional power switch
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2007
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Cmos Rf Cituits Sic] Variability And Reliability Resilient Design, Modeling, And Simulation
    Liu, Yidong
    In: Electronic Theses and Dissertations, 2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    CMOS RF Low-Noise Amplifier Design for Variability and Reliability
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A spice-like reliability model for deep-submicron CMOS technology
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2005
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Analytical input mapping for modelling energy dissipation of complex CMOS gates
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2004
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design of LNA at 2.4 GHz using 0.25 mu m CMOS technology
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation of RF electrostatic discharge (ESD) protection in 0.18-mu m CMOS technology
    In: Faculty Bibliography 2000s, 2008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CMOS Transistor Amplifier Temperature Compensation: Modeling and Analysis
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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