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    Impact Of Strain On Hot Electron Reliability Of Dual-Band Power Amplifier And Integrated Lna-Mixer Rf Performances
    Yuan, J. S. ; Ma, J. ; et al.
    In: Scopus Export 2010-2014, 2010
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Impact of strain on hot electron reliability of dual-band power amplifier and integrated LNA-mixer RF performances
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2010
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Hot Carrier Injection Stress Effect on a 65 nm LNA at 70 GHz
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Hot Carrier Injection Stress Effect On A 65 Nm Lna At 70 Ghz
    Yuan, J. S. ; Xu, Y. ; et al.
    In: Scopus Export 2010-2014, 2014
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Cmos Rf Low-Noise Amplifier Design For Variability And Reliability
    Liu, Yidong ; Yuan, Jiann Shiun
    In: Scopus Export 2010-2014, 2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOS RF Low-Noise Amplifier Design for Variability and Reliability
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Cmos Transistor Amplifier Temperature Compensation: Modeling And Analysis
    Zhang, Yuying ; Yuan, Jiann Shiun
    In: Scopus Export 2010-2014, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    CMOS Transistor Amplifier Temperature Compensation: Modeling and Analysis
    In: Faculty Bibliography 2010s, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -