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    Selective Growth of Strained Ge Channel on Relaxed SiGe Buffer in Shallow Trench Isolation for High Mobility Ge Planar and Fin p-FET
    Bender, Hugo ; Hikavyy, Andriy ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 39-45
    Online unknown
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    Deep-Level Transient Spectroscopy of MOS Capacitors on GeSn Epitaxial Layers
    Simoen, Eddy ; Gencarelli, Federica ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 279-287
    Online unknown
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    High Ge Content SiGe Selective Processes for Source/Drain in Manufacturing the Next Generations of pMOS Transistors
    Witters, Liesbeth ; Loo, Roger ; et al.
    In: ECS Journal of Solid State Science and Technology, Jg. 2 (2013), S. P282- (5S.)
    Online unknown
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    (Invited) Stress Techniques in Advanced Transistor Architectures: Bulk FinFETs and Implant-Free Quantum Well Transistors
    Loo, Roger ; Mitard, Jerome ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 45 (2012-04-27), S. 235-246
    Online unknown
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    Selective Area Growth of InP on On-Axis Si(001) Substrates with Low Antiphase Boundary Formation
    Merckling, Clement ; Loo, Roger ; et al.
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 159 (2012), S. H260- (6S.)
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    Impact of Millisecond Laser Anneal on the Thermal Stress- Induced Defect Creation in Si1-xGex Source /Drain Junctions
    Verheyen, Peter ; Simoen, Eddy ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 13 (2008-10-24), S. 23-30
    Online unknown
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    Low-Leakage Ultra-Scaled Junctions in MOS Devices; from Fundamentals to Improved Device Performance
    Heringa, Anco ; Duffy, Ray ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 19-33
    Online unknown
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    The Combination of Embedded Si1-xGex S/D and Metal Gate Options for High Performance pMOS Transistors
    Demand, Marc ; Shamiryan, Denis ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 697-711
    Online unknown
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    High Ge Content SiGe Selective Processes for Manufacturing Source/Drain in the Next Generations of pMOS Transistors
    Witters, Liesbeth ; Loo, Roger ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2012-06-04, S. 3204-3204
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Stress Characterization of Selective Epitaxial Si1-xGex Deposition for Embedded Source/Drain before and after Millisecond Laser Anneal
    Hikavyy, Andriy ; Simoen, Eddy ; et al.
    In: ECS Meeting Abstracts, 2009-07-10, S. 2366-2366
    Online unknown
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