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    Jitter Estimation in a CMOS Tapered Buffer for an Application of Clock Distribution Network
    Illikkal, Muhammed Suhail ; Tripathi, Jai Narayan ; et al.
    In: 2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Sapporo/APEMC), 2019-06-01, S. 301-304
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Signal integrity: Influence of non-linear driver, different bit rates, and estimation by different algorithms
    Hsu, Sheng-Yun ; Chou, Chiu-Chih ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, 2014-05-01, S. 121-124
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Correlation power analysis using bit-level biased activity plaintexts against AES cores with countermeasures
    Fujimoto, Daisuke ; Miura, Noriyuki ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, 2014-05-01, S. 306-309
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    On-chip magnetic thin-film noise suppressor for IC chip level digital noise countermeasure
    Yamaguchi, Masahiro ; Endo, Yasushi ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, 2014-05-01, S. 354-357
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    High spatial resolution on-chip active magnetic field probe for IC chip-level near field measurements
    Shigeta, Y. ; Sato, N. ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, 2014-05-01, S. 569-572
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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