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    CMOS circuit analysis with luminescence measurements and simulations
    STELLARI, F ; TOSI, A ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 495-498
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Passive DNA sensor with gold electrodes fabricated in a CMOS backend process
    HOFMANN, Franz ; FREY, Alexander ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 487-490
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Inversion layer quantization impact on the interpretation of 1/f noise in deep submicron CMOS transistors
    MERCHA, A ; SIMOEN, E ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 79-82
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of source/drain implants on threshold voltage matching in deep sub-micron CMOS technologies
    DUBOIS, Jerome ; KNOL, Johan ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 115-118
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Gate dielectrics for high performance and low power CMOS SoC applications
    CUBAYNES, F. N ; DACHS, C. J. J ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 427-430
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Elevated Co-silicide for sub-100nm high performance and RF CMOS
    JURCZAK, M ; DE POTTER, M ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 311-314
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Voltage-controlled substrate structure for integrated inductors in standard digital CMOS technologies
    MAGET, Judith ; KRAUS, Rainer ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 331-334
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Triple Gate Oxide by nitrogen implantation integrated in a 0.13μm CMOS flow
    CARRERE, J-P ; GROUILLET, A ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 155-158
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The RF potential of high-performance 100nm CMOS technology
    VENEZIA, V. C ; SCHOLTEN, A. J ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 491-494
    Konferenz
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    Suitability of scaled SOI CMOS for high-frequency analog circuits
    ZAMDMER, N ; PLOUCHART, J.-O ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 511-514
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    RPN oxynitride gate dielectrics for 90 nm Low Power CMOS applications
    VELOSO, A ; JURCZAK, M ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 159-162
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Investigations on poly-SiGe gate in full 0.1μm CMOS integration
    TAVEL, Brice ; MONSIEUR, Frédéric ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 127-130
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Investigation of performance improvement and gate-to-junction leakage reduction for the 90nm CMOS gate stack architeture
    HENSON, K ; KUBICEK, S ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 563-566
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Impact of parametric mismatch and fluctuations on performance and yield of deep-submicron CMOS technologies
    TUINHOUT, Hans P
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 95-101
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Identification of critical parameters for plasma process-induced damage in 130 and 100 nm CMOS technologies
    VAN DEN BOSCH, Geert ; DE JAEGER, Brice ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 271-274
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fast CMOS-integrated finger photodiodes for a wide spectral range
    ZIMMERMANN, H ; DIETRICH, H ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 435-438
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A CMOS photodiode array with linearized spectral response and spatially distributed light intensity detection for the use in optical storage systems
    HEHEMANN, Ingo ; ÖZKAN, Erol ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 431-434
    Konferenz
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    65 nm transistors for a 90 nm CMOS SOC platform
    MIRABEDINI, M. R ; GOPINATH, V. P ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 131-134
    Konferenz
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    Spike anneal optimization for digital and analogue high performance 0.13 μm CMOS platform
    JOSSE, E ; ARNAUD, F ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 207-210
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Post-process CMOS front end engineering with focused ion beams
    LUGSTEIN, A ; BREZNA, W ; et al.
    In: ESSDERC 2002 : 32nd European solid-state device research conference (Firenze, 24-26 September 2002), 2002, S. 111-114
    Konferenz
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xs 0 - 576
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