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    Characterization of the CMOS FinFET structure on single-event effects â basic charge collection mechanisms and soft error modes
    Nsengiyumva, Patrick
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    X-ray and Proton Radiation Effects on 40 nm CMOS Physically Unclonable Function Devices
    Wang, Pengfei
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Single event transient and total ionizing dose effects on III-V MOSFETs for sub-10 nm node CMOS
    Ni, Kai
    2016
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Single-Event Upset Technology Scaling Trends of Unhardened and Hardened Flip-Flops in Bulk CMOS
    Gaspard, Nelson Joseph
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Temperature and Total Ionizing Dose Characterization of a Voltage Reference in a 180 nm CMOS Technology
    Shetler, Kevin Joseph
    2016
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    IRRADIATION AND TEMPERATURE CHARACTERIZATION FOR A 32NM RF SILICON-ON-INSULATOR CMOS PROCESS
    Haeffner, Timothy D.
    2015
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Single-Event Upset Characterization of Flip-Flops Across Temperature and Supply Voltage for a 20-nm Bulk, Planar, CMOS Technology
    Kay, William Hunter
    2015
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    TOTAL IONIZING DOSE EFFECTS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES
    Rezzak, Nadia
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    SINGLE-EVENT CHARGE COLLECTION AND UPSET IN 65-NM AND 40-NM DUAL- AND TRIPLE-WELL BULK CMOS SRAMS
    Chatterjee, Indranil
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    IMPACT OF WELL STRUCTURE ON SE RESPONSE IN 90-nm BULK CMOS
    Gaspard, Nelson J.
    2011
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    EFFECTS OF SINGLE-EVENT-INDUCED CHARGE SHARING IN SUB-100 NM BULK CMOS TECHNOLOGIES
    Amusan, Oluwole Ayodele
    2009
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    ANALYSIS OF PARAMETER VARIATION IMPACT ON THE SINGLE EVENT RESPONSE IN SUB-100 NM CMOS STORAGE CELLS
    Kauppila, Amy V
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Characterization of heavy-ion, neutron and alpha particle-induced single-event transient pulse widths in advanced CMOS technologies
    Narasimham, Balaji
    2008
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    SIMULATED TEMPERATURE DEPENDENCY OF SEU SENSITIVITY IN A 0.5 ìm CMOS SRAM
    Sanathanamurthy, Siddartha
    2008
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    TRENDS IN SINGLE EVENT PULSE WIDTHS AND PULSE SHAPES IN DEEP SUBMICRON CMOS
    DasGupta, Sandeepan
    2007
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Single-Event Characterization of a 90-nm Bulk CMOS Digital Cell Library
    Atkinson, Nicholas M
    2010
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    MEASUREMENT AND ANALYSIS OF SINGLE EVENT INDUCED CROSSTALK IN NANOSCALE CMOS TECHNOLOGIES
    BALASUBRAMANIAN, ANUPAMA
    2008
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Single-Event Characterization and Mitigation in High-Speed CMOS Communications Devices
    Armstrong, Sarah E.
    2011
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Qualitative Characterization of Single-event Transient and Latchup Trends in 180 nm CMOS Technology
    Dinkins, Cody Adam
    2011
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Impact of Temperature on Single-Event Transients in Deep Submicrometer Bulk and Silicon-On-Insulator Digital CMOS Technologies
    Gadlage, Matthew John
    2010
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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