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  1. DIETZ, N ; ALEVLI, M ; et al.
    In: Physica status solidi. B. Basic research, Jg. 242 (2005), Heft 15, S. 2985-2994
    Online Konferenz
  2. FILIPPI, M ; CALLIARI, L ; et al.
    In: Papers presented at ECASIA '03, Proceedings of the 10th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, 5-10 October 2003, Berlin, Germany, Jg. 36 (2004), Heft 8, S. 1181-1184
    Online Konferenz
  3. SVENSSON, J ; BULGAKOVA, N. M ; et al.
    In: Electronics properties of novel nanostructures: with contributions from the 20th International WinterSchool/Euroconference on Electronic Properties of Novel Materials, Kirchberg, Tirol, Austria, 4-11 March 2006, Jg. 243 (2006), Heft 13, S. 3524-3527
    Online Konferenz
  4. ANSALDO, A ; HALUSKA, M ; et al.
    In: Electronics properties of novel nanostructures: with contributions from the 20th International WinterSchool/Euroconference on Electronic Properties of Novel Materials, Kirchberg, Tirol, Austria, 4-11 March 2006, Jg. 243 (2006), Heft 13, S. 3077-3081
    Online Konferenz
  5. ZHANG, Lei-Lei ; LI, He-Jun ; et al.
    In: Surface and interface analysis, Jg. 44 (2012), Heft 10, S. 1319-1323
    Online academicJournal
  6. JUAN, DU ; JIANG, ZHU ; et al.
    In: International journal for numerical methods in biomedical engineering (Print), Jg. 27 (2011), Heft 1, S. 78-94
    Online academicJournal
  7. FAN, Y ; FITZGERALD, A. G ; et al.
    In: ECASIA'01: proceedings of the 9th European conference on applications of surface and interface analysis, 30th September-5th October 2001, Avignon, France, Jg. 34 (2002), Heft 1, S. 703-707
    Online Konferenz
  8. RIEMANN, T ; CHRISTEN, J ; et al.
    In: The tenth international conference on II-VI compounds, Bremen, Germany, September 9-14, 2001 (Part 2), Jg. 229 (2002), Heft 2, S. 891-895
    Online Konferenz
  9. BARTSCH, K ; GRAFF, A ; et al.
    In: Proceedings of the 48th International Field Emission Symposium, 8-11 July 2002, Lyon, France, Jg. 36 (2004), Heft 5-6, S. 465-469
    Online Konferenz
  10. OBRAZTSOV, A. N ; ZOLOTUKHIN, A. A ; et al.
    In: Proceedings of the 48th International Field Emission Symposium, 8-11 July 2002, Lyon, France, Jg. 36 (2004), Heft 5-6, S. 481-484
    Online Konferenz
  11. SIMCOCK, M. N
    In: Surface and interface analysis, Jg. 38 (2006), Heft 7, S. 1122-1129
    Online academicJournal
  12. HIMMEL, Hans-Jörg
    In: ChemPhysChem (Print), Jg. 6 (2005), Heft 4, S. 706-713
    Online academicJournal
  13. DING, Yun-Shuang ; LI, Wei-Na ; et al.
    In: Surface and interface analysis, Jg. 37 (2005), Heft 3, S. 310-315
    Online academicJournal
  14. VERGNES, Huges ; DUVERNEUIL, Patrick ; et al.
    In: Canadian journal of chemical engineering, Jg. 78 (2000), Heft 4, S. 803-814
    Online academicJournal
  15. TOUNSI, A ; SCHEID, E ; et al.
    In: Canadian journal of chemical engineering, Jg. 74 (1996), Heft 6, S. 950-959
    academicJournal
  16. TOUNSI, A ; SCHEID, E ; et al.
    In: Canadian journal of chemical engineering, Jg. 74 (1996), Heft 6, S. 941-949
    academicJournal
  17. VERGNES, Hugues ; DUVERNEUIL, Patrick ; et al.
    In: Canadian journal of chemical engineering, Jg. 78 (2000), Heft 4, S. 793-802
    Online academicJournal
  18. HUBERT-PFALZGRAF, L. G ; GUILLON, H
    In: Thin film processing by chemical vapour deposition, Jg. 12 (1998), Heft 3, S. 221-236
    Online academicJournal
  19. LARKIN, D. J
    In: Fundamental questions and applications of SiC (Part I), Jg. 202 (1997), Heft 1, S. 305-320
    Online academicJournal
  20. RUPP, R ; MAKAROV, YU. N ; et al.
    In: Fundamental questions and applications of SiC (Part I), Jg. 202 (1997), Heft 1, S. 281-304
    Online academicJournal
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