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    Nanoscale quantitative characterization of 22nm CMOS transistor using Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
    Wenghor, Weihao ; Ortollandhor, Claude ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 584-585
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Non‐Conventional Complementary Metal‐Oxide‐Semiconductor (CMOS) Devices
    Rischhor, Lothar ; Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA [Ed.]
    In: Nanotechnology, 2010-07-15, S. 1-28
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Thrombotic, inflammatory reactions, and disease progressions visualized by multi‐scale in vivo 1P, 2P microscope, and on‐chip imager
    Nishimurahor, Satoshi ; European Microscopy Society [Ed.]
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 151-152
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Imaging Detectors
    Bloukehor, Morley M. ; Thomas G. Brown [Ed.] ; et al.
    In: The Optics Encyclopedia, 2007-09-15, S. 61
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Photography, Digital
    Krisshor, Michael A. ; Thomas G. Brown [Ed.] ; et al.
    In: The Optics Encyclopedia, 2007-09-15, S. 60
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Photography, Digital
    Krisshor, Michael A. ; Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA [Ed.]
    In: digital Encyclopedia of Applied Physics, 2003-04-15
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Imaging Detectors
    Bloukehor, Morley M. ; Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA [Ed.]
    In: digital Encyclopedia of Applied Physics, 2003-04-15
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    New Approaches to Multi‐Dimensional Experiments in S/TEM: Application of High Speed Cameras
    Pakzadhor, Anahita ; Czarnikhor, Cory ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 79-80
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Multi‐modal in vivo visualization of single cell dynamics by 1P, 2P, light‐sheet, and on‐chip technologies
    Nishimurahor, Satoshi ; European Microscopy Society [Ed.]
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 147-148
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Transmission imaging of biological tissue with the Delft multi‐beam SEM
    Zuidemahor, Wilco ; Renhor, Yan ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 394-395
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Piezoelectric thin films investigated by dark‐field electron holography and in‐situ biasing
    Denneulinhor, Thibaud ; Wollschlägerhor, Nicole ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 1068-1069
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    In situ UHVEM observation of atomic ordering in magnetic nanoparticles using a direct detection camera
    Satohor, Kazuhisa ; Yasudahor, Hidehiro ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 107-108
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    New approach for low dose electron diffraction tomography
    Ghadimihor, Reza ; Tietzhor, Hans ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 35-36
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Phase formation and growth behavior of Co‐Ge thin films
    Alvarezhor, Carlos ; Bertogliohor, Maxime ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 670-671
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Microsecond time‐ and subnanometer spatial‐scale in situ observations of crystallization process in amorphous antimony nanoparticles by the UHVEM newly developed at Osaka University
    Yasudahor, Hidehiro ; European Microscopy Society [Ed.]
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 133-134
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Direct detection and electron counting ‐ A beginning of a new era for electron microscopy
    Panhor, Ming ; European Microscopy Society [Ed.]
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 342-343
    Nachschlagewerk
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Quantitative and non‐destructive defect metrology for beyond Si semiconductors
    Prokhodtsevahor, Anna ; Vystavelhor, Tomas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 660-661
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Combined EELS‐EDX analysis of nanoscale memristive NbOx and AlOx layers
    Strobelhor, Julian ; Hansenhor, Mirko ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 966-967
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Laser‐Induced Fluorescence
    Leipertzhor, Alfred ; Braeuerhor, Andreas ; et al.
    In: Handbook of Combustion, 2010-07-15, S. 219-242
    Nachschlagewerk
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Beyond Silicon MOS: An Electrical Study on Interface and Gate Dielectrics with ac Admittance Techniques
    Dennis H.C. Linhor ; Vaishor, Abhitosh ; et al.
    In: Materials Science and Technology, 2006-09-15, S. 1-16
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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