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    Integration of Germanium into Modern CMOS: Challenges and Breakthroughs
    Ye, Peide D. ; Chung, Wonil ; et al.
    2018
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Implantable CMOS Imaging Devices
    Ohta, Jun
    2014
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Non-Conventional Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) Devices
    Risch, Lothar
    2010
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Nanoscale quantitative characterization of 22nm CMOS transistor using Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
    Wenghor, Weihao ; Ortollandhor, Claude ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 584-585
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Biocompatible Circuits for Human-Machine Interfacing
    Simon, Daniel ; Berggren, Magnus ; et al.
    2017
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    DNA Damage and Repair in Forensic Science
    Ballantyne, Jack ; Hall, Ashley ; et al.
    2016
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Logic Devices Challenges and Opportunities in the Nano Era
    Boeuf, Frederic
    2017
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Phase Change Materials for Memory Application
    Song, Zhitang ; Wu, Liangcai
    2016
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Silicon Nanocrystal Flash Memory
    Oda, Shunri ; Huang, Shaoyun
    2010
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Combined EELS-EDX analysis of nanoscale memristive NbOx and AlOx layers
    Kienle, Lorenz ; Kohlstedt, Hermann ; et al.
    2016
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Piezoelectric thin films investigated by dark‐field electron holography and in‐situ biasing
    Denneulinhor, Thibaud ; Wollschlägerhor, Nicole ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 1068-1069
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    In situ UHVEM observation of atomic ordering in magnetic nanoparticles using a direct detection camera
    Satohor, Kazuhisa ; Yasudahor, Hidehiro ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 107-108
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Phase formation and growth behavior of Co‐Ge thin films
    Alvarezhor, Carlos ; Bertogliohor, Maxime ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 670-671
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Quantitative and non‐destructive defect metrology for beyond Si semiconductors
    Prokhodtsevahor, Anna ; Vystavelhor, Tomas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 660-661
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Combined EELS‐EDX analysis of nanoscale memristive NbOx and AlOx layers
    Strobelhor, Julian ; Hansenhor, Mirko ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 966-967
    Nachschlagewerk
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