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    Toward standardization of low impedance contact CDM
    Jack, Nathan ; Carn, Brett ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 116 (2021)
    academicJournal
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    Over-stress and under-stress effects in CDM testing
    O'Sullivan, Greg ; Smedes, Theo ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 108 (2020-05-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Failure analysis on 14 nm FinFET devices with ESD CDM failure
    Shaalini, C. ; Tan, P.K. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 88-90 (2018-09-01), S. 321-333
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
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    Study of CDM specific effects for a smart power input protection structure
    Etherton, M. ; Qu, N. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006), Heft 5, S. 666-676
    academicJournal
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    A 3-D Circuit Model to evaluate CDM performance of ICs
    Sowariraj, M.S.B. ; Smedes, Theo ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005), Heft 9, S. 1425-1429
    academicJournal
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    Test circuits for fast and reliable assessment of CDM robustness of I/O stages
    Stadler, W. ; Esmark, K. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005), Heft 2, S. 269-277
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Capacitively coupled transmission line pulsing cc-TLP––a traceable and reproducible stress method in the CDM-domain
    Wolf, Heinrich ; Gieser, Horst ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 45 (2005), Heft 2, S. 279-285
    academicJournal
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    Role of package parasitics and substrate resistance on the Charged Device Model (CDM) failure levels –An explanation and die protection strategy
    Sowariraj, M.S.B. ; Smedes, Theo ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003), Heft 9, S. 1569-1575
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Process influence on product CDM ESD performance
    Lisenker, Boris
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003), Heft 7, S. 1029-1037
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    The influence of technology variation on ggNMOSTs and SCRs against CDM BSD stress
    Sowariraj, M.S.B. ; Salm, Cora ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 42 (2002), Heft 9, S. 1287-1292
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    The importance of standardizing CDM ESD test head parameters to obtain data correlation
    Henry, Leo G. ; Kelly, Mark A. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 41 (2001), Heft 11, S. 1789-1800
    academicJournal
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    academicJournal
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Investigation into socketed CDM (SDM) tester parasitics
    Chaine, M ; Verhaege, K ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 39 (1999), Heft 11, S. 1531-1540
    academicJournal
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    academicJournal
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