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    Characterisation of polysilicon gate microstructures for 0.5 μm CMOS devices using transmission electron microscopy and atomic force microscopy images
    AHMAD, Ibrahim ; OMAR, Abdullah ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 191 (2002), Heft 1-4, S. 362-367
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Selective hydrogenation of cinnamaldehyde to cinnamyl alcohol with carbon nanotubes supported Pt-Co catalysts
    YAN, LI ; ZHU, Peng-Fei ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 254 (2008), Heft 9, S. 2609-2614
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Gadolinium oxide high-k gate dielectrics prepared by anodic oxidation
    KUEI, P. Y ; HU, C. C
    In: Applied surface science, Jg. 254 (2008), Heft 17, S. 5487-5491
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Chemical vapor deposition of ZrxTi1-xO2and HfxTi1-xO2 thin films using the composite anhydrous nitrate precursors
    QI YUE, SHAO ; AI DONG, LI ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 254 (2008), Heft 8, S. 2224-2228
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Formation of silicon on plasma synthesized SiOxNyand reaction mechanism
    MING, ZHU ; XUEJIE, SHI ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 243 (2005), Heft 1-4, S. 89-95
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of reactions at titanium/nickel silicide interface using X-ray photoelectron spectroscopy and transmission electron microscopy
    JIN, ZHAO ; LU, Jiong-Ping ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 211 (2003), Heft 1-4, S. 367-372
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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