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    On-chip embedded toroidal solenoid inductors and transformers formed by post-CMOS micromachining techniques
    LEI, GU ; XINXIN, LI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 4, S. 697-703
    academicJournal
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    Voltage optimization for simultaneous energy efficiency and temperature variation resilience in CMOS circuits
    KUMAR, Ranjith ; KURSUN, Volkan
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 4-5, S. 583-594
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Impact of technology scaling and process variations on RF CMOS devices
    HASSAN, Hassan ; ANIS, Mohab ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 4, S. 275-282
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Metallic bonding methodology for heterogeneous integration of optoelectronic dies to CMOS circuits
    ROBOGIANNAKIS, P ; KYRIAKIS-BITZAROS, E. D ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 4, S. 727-732
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design and testing of a self-powered 3D integrated SOI CMOS system
    DILLI, Z ; GOLDSMAN, N ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 2, S. 388-394
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A high current gain gate-controlled lateral bipolar junction transistor with 90 nm CMOS technology for future RF SoC applications
    CHEN, Shuo-Mao ; FANG, Yean-Kuen ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 52 (2008), Heft 8, S. 1140-1144
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design and modelling of a multi-standard fractional PLL in CMOS/SOI technology
    JACQUEMOD, Gilles ; GEYNET, Lionel ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 9, S. 1130-1139
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Fault detection in CMOS/SOI mixed-signal circuits using the quiescent current test
    DE VENUTO, D ; KAYAL, M ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 33 (2002), Heft 5-6, S. 387-397
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Electrothermal simulation of SOI CMOS analog integrated circuits
    FEIXIA, YU ; CHENG, Ming-C
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 5, S. 691-702
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    An automatic parameter extraction technique for advanced CMOS device modeling using genetic algorithm : On VLSI design and test
    YIMING, LI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 84 (2007), Heft 2, S. 260-272
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A single-poly EEPROM cell structure compatible to standard CMOS process
    LIN, Ching-Fang ; SUN, Cherng-Yuan
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 6, S. 888-893
    academicJournal
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    Body ballast resistor enhances ESD robustness of deep sub-micron CMOS circuit
    JAM WEM, LEE ; JIN LIAN, SUB ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 35 (2004), Heft 9, S. 783-788
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Analytical modeling of CMOS circuit delay distribution due to concurrent variations in multiple processes
    HARISH, B. P ; BHAT, Navakanta ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 50 (2006), Heft 7-8, S. 1252-1260
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fault security analysis of CMOS VLSI circuits using defect-injectable VHDL models
    SHAW, Donald ; AL-KHALILI, Dhamin ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 32 (2002), Heft 1-2, S. 77-97
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Synthesis of low-power CMOS circuits using hybrid topologies
    GALLANT, M ; AL-KHALILI, D
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 27 (1999), Heft 2, S. 143-163
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Portable cell-based biosensor system using integrated CMOS cell-cartridges
    DEBUSSCHERE, B. Derek ; KOVACS, Gregory T. A
    In: Cell-based biosensors, Jg. 16 (2001), Heft 7-8, S. 543-556
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS temperature sensor with ring oscillator for mobile DRAM self-refresh control
    KIM, Chan-Kyung ; LEE, Jae-Goo ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 10-11, S. 1042-1049
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Investigation of 65 nm CMOS transistor local variation using a FET array
    XU, Y. Z ; CHEN, C. S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 52 (2008), Heft 8, S. 1244-1248
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    ESD protection design for I/O libraries in advanced CMOS technologies
    SEMENOV, Oleg ; SOMOV, Sergei
    In: Solid-state electronics, Jg. 52 (2008), Heft 8, S. 1127-1139
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Designing CMOS data cells for space systems
    ROCKETT, Leonard R
    In: Microelectronics journal, Jg. 35 (2004), Heft 12, S. 953-967
    academicJournal
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