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    Analytical modeling of CMOS circuit delay distribution due to concurrent variations in multiple processes
    HARISH, B. P ; BHAT, Navakanta ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 50 (2006), Heft 7-8, S. 1252-1260
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Challenges and performance limitations of high-k and oxynitride gate dielectrics for 90/65 nm CMOS technology
    TAN, S. Y
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 6-7, S. 783-786
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Impact of device scaling on the 1/f noise performance of deep submicrometer thin gate oxide CMOS devices
    KOK WAI, CHEW ; KIAT SENG, YEO ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 50 (2006), Heft 7-8, S. 1219-1226
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    MOSFET output characteristics after oxide breakdown
    FERNANDEZ, R ; RODRIGUEZ, R ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 84 (2007), Heft 1, S. 31-36
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    In-depth electrical characterization of sub-45 nm fully depleted strained SOI MOSFETs with TiN/HfO2 gate stack : Ultimate integration on silicon conference 2007
    FERUGLIO, S ; ANDRIEU, F ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 52 (2008), Heft 4, S. 489-497
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Impact strain engineering on gate stack quality and reliability
    CLAEYS, C ; SIMOEN, E ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 52 (2008), Heft 8, S. 1115-1126
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Simulation study of the noise figure of nanometer-gate nMOS transistors near the scaling limit
    CAI, M ; LIU, M ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 5, S. 667-673
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Low-frequency noise in silicon-on-insulator devices and technologies
    SIMOEN, E ; MERCHA, A ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 1, S. 16-37
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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