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    Exploring HW/SW Co-Design for Video Analysis on CPU-FPGA Heterogeneous Systems
    Zhang, Xiaofan ; Ma, Yuan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems ; volume 41, issue 6, page 1606-1619 ; ISSN 0278-0070 1937-4151, 2022
    Online academicJournal
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    Comprehensive Study of Inversion Capacitance in Metal-Insulator-Semiconductor Capacitor With Existing Oxide Charges
    Chen, Kung-Chu ; Lin, Kuan-Wun ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 10, page 960-969 ; ISSN 2168-6734, 2022
    Online academicJournal
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    Capacitance Analysis of Transient Behavior Improved Metal-Insulator-Semiconductor Tunnel Diodes With Ultra Thin Metal Surrounded Gate
    Huang, Sung-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 9, page 1041-1048 ; ISSN 2168-6734, 2021
    Online academicJournal
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    Edge-Etched Al 2 O 3 Dielectric as Charge Storage Region in a Coupled MIS Tunnel Diode Sensor
    Chen, Bo-Jyun ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 8, page 825-833 ; ISSN 2168-6734, 2020
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    Astigmatic Detection System With Feedback Mechanism for Calibrating Driving Waveform of Piezoelectric Actuators
    Liao, Hsien-Shun ; Guo, Zheng-Rong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ; volume 72, page 1-7 ; ISSN 0018-9456 1557-9662, 2023
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    Three-Level MIS Antifuse Formed by Polarity-Dependent Dielectric Breakdown on 3.5-nm SiO 2 for One-Time Programmable Application
    Huang, Sung-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 70, issue 8, page 4133-4138 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2023
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    Accelerator Architectures —A Ten-Year Retrospective
    Hwu, Wen-mei ; Patel, Sanjay
    In: IEEE Micro ; volume 38, issue 6, page 56-62 ; ISSN 0272-1732 1937-4143, 2018
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    Schottky Barrier Height Modulation (SBHM) Induced Photon Current Gain in MIS(p) Tunnel Diodes for Low Operation Voltage
    Chen, Kung-Chu ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal ; volume 22, issue 4, page 3164-3171 ; ISSN 1530-437X 1558-1748 2379-9153, 2022
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    Improved Two States Characteristics in MIS Tunnel Diodes by Oxide Local Thinning Enhanced Transient Current Behavior
    Huang, Sung-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 69, issue 12, page 7107-7112 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2022
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    An Analytical Model for the Electrostatics of Reverse-Biased Al/SiO₂/Si(p) MOS Capacitors With Tunneling Oxide
    Lin, Kuan-Wun ; Chen, Kung-Chu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 69, issue 4, page 1972-1978 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2022
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    Energy-Saving Write/Read Operation of Memory Cell by Using Separated Storage Device and Remote Reading With an MIS Tunnel Diode Sensor
    Liao, Chien-Shun ; Kao, Wei-Chih ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 4, issue 6, page 424-429 ; ISSN 2168-6734, 2016
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    Transient Current Enhancement in MIS Tunnel Diodes With Lateral Electric Field Induced by Designed High-Low Oxide Layers
    Huang, Sung-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 68, issue 12, page 6580-6585 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2021
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    Synchrotron Radiation and Sensors: A History of Synergies
    Hwu, Yeukuang ; Margaritondo, Giorgio ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal ; volume 21, issue 11, page 12764-12773 ; ISSN 1530-437X 1558-1748 2379-9153, 2021
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    Enhanced Photo Sensing and Lowered Power Consumption in Concentric MIS Devices by Monitoring Outer Ring Open-Circuit Voltage With Biased Inner Gate
    Huang, Chen-Yun ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 68, issue 7, page 3417-3423 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2021
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    Enhanced Transient Behavior in MIS(p) Tunnel Diodes by Trench Forming at the Gate Edge
    Lin, Jian-Yu ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 68, issue 9, page 4189-4194 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2021
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    Development of a Resonant Scanner to Improve the Imaging Rate of Astigmatic Optical Profilometers
    Liao, Hsien-Shun ; Cheng, Shih-Han ; et al.
    In: IEEE/ASME Transactions on Mechatronics ; volume 26, issue 2, page 1172-1177 ; ISSN 1083-4435 1941-014X, 2021
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    Energy-Saving Logic Gates Utilizing Coupling Phenomenon Between MIS(p) Tunneling Diodes
    Chen, Jen Hao ; Chen, Kung Chu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 68, issue 12, page 6558-6562 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2021
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    Performance analysis of several electron/hole transport layers in thin film MAPbI3-based perovskite solar cells: A simulation study
    Abnavi, Hamed ; Maram, Daniyal Khosh ; et al.
    In: Optical Materials ; volume 118, page 111258 ; ISSN 0925-3467, 2021
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    Thermoelectric Energy Conversion System With Multiple Inputs
    Hwu, Kuo-Ing ; Yau, Yeu-Torng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Power Electronics ; volume 35, issue 2, page 1603-1621 ; ISSN 0885-8993 1941-0107, 2020
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    Ultra-Low Subthreshold Swing in Gated MIS(p) Tunnel Diodes With Engineered Oxide Local Thinning Layers
    Chiang, Tzu-Hao ; Hwu, Jenn-Gwo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 67, issue 4, page 1887-1893 ; ISSN 0018-9383 1557-9646, 2020
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