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    Embedded Micro-detectors for EUV Exposure Control in FinFET CMOS Technology
    Wang, Chien-Ping ; Lin, Burn Jeng ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 17 (2022-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Embedded Micro-detectors for EUV Exposure Control in FinFET CMOS Technology
    Wang, Chien-Ping ; Burn Jeng Lin ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 17 (2022), Heft 1, S. 1-7
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    Detectors Array for In Situ Electron Beam Imaging by 16-nm FinFET CMOS Technology
    Wang, Chien-Ping ; Lin, Burn Jeng ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 16 (2021-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Detectors Array for In Situ Electron Beam Imaging by 16-nm FinFET CMOS Technology
    Wang, Chien-Ping ; Burn Jeng Lin ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 16 (2021-05-01), Heft 1, S. 1-6
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    CMOS-Compatible Memristor for Optoelectronic Neuromorphic Computing.
    Wu, Facai ; Chou, Chien-Hung ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 17 (2022-11-07), Heft 1, S. 1-9
    Online academicJournal
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    CMOS-Compatible Memristor for Optoelectronic Neuromorphic Computing
    Wu, Facai ; Chou, Chien-Hung ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 17 (2022-11-01), Heft 1, S. 1-9
    Online academicJournal
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    Small-area and compact CMOS emulator circuit for CMOS/nanoscale memristor co-design.
    Shin, Sang ; Hak ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 8 (2013-12-01), Heft 1, S. 1-7
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    CMOS-Compatible Fabrication for Photonic Crystal-Based Nanofluidic Structure
    Peng, Wang ; Chen, Youping ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-12-01), Heft 1, S. 1-9
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    Wide range detector of plasma induced charging effect for advanced CMOS BEOL processes
    Chao, Yi-Jie ; Yang, Kai-Wei ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 16 (2021-07-01), Heft 1, S. 1-6
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    A RRAM Integrated 4T SRAM with Self-Inhibit Resistive Switching Load by Pure CMOS Logic Process
    Hsu, Meng-Yin ; Liao, Chu-Feng ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-12-01), Heft 1, S. 1-9
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    Wide range detector of plasma induced charging effect for advanced CMOS BEOL processes.
    Chao, Yi-Jie ; Yang, Kai-Wei ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 16 (2021-07-03), Heft 1, S. 1-6
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    A Study on the Effect of the Structural Parameters and Internal Mechanism of a Bilateral Gate-Controlled S/D Symmetric and Interchangeable Bidirectional Tunnel Field Effect Transistor.
    Jin, Xiaoshi ; Wang, Yicheng ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 16 (2021-06-08), Heft 1, S. 1-9
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    Robust and Latch-Up-Immune LVTSCR Device with an Embedded PMOSFET for ESD Protection in a 28-nm CMOS Process
    Chen, Ruibo ; Liu, Hongxia ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 15 (2020-11-01), Heft 1, S. 1-6
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    CMOS-Compatible Top-Down Fabrication of Periodic SiO<subscript>2</subscript> Nanostructures using a Single Mask
    Meng, Lingkuan ; Gao, Jianfeng ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 10 (2015-12-01), Heft 1, S. 1-7
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    A RRAM Integrated 4T SRAM with Self-Inhibit Resistive Switching Load by Pure CMOS Logic Process
    Hsu, Meng-Yin ; Liao, Chu-Feng ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-06-01), Heft 1, S. 1-9
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    Robust and Latch-Up-Immune LVTSCR Device with an Embedded PMOSFET for ESD Protection in a 28-nm CMOS Process
    Chen, Ruibo ; Liu, Hongxia ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 15 (2020-11-11), Heft 1
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    pMOSFETs Featuring ALD W Filling Metal Using SiH<subscript>4</subscript> and B<subscript>2</subscript>H<subscript>6</subscript> Precursors in 22 nm Node CMOS Technology
    Wang, Guilei ; Luo, Jun ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-12-01), Heft 1, S. 1-6
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    In Situ Analysis of Oxygen Vacancies and Band Alignment in HfO<subscript>2</subscript>/TiN Structure for CMOS Applications
    Xu, Da-Peng ; Yu, Lin-Jie ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-12-01), Heft 1, S. 1-6
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    pMOSFETs Featuring ALD W Filling Metal Using SiH4 and B2H6 Precursors in 22 nm Node CMOS Technology
    Wang, Guilei ; Luo, Jun ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-04-01), Heft 1, S. 1-6
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    In Situ Analysis of Oxygen Vacancies and Band Alignment in HfO2/TiN Structure for CMOS Applications
    Xu, Da-Peng ; Yu, Lin-Jie ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 12 (2017-04-01), Heft 1, S. 1-6
    Online academicJournal
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