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    44.6 Electronics Properties of CMOS Bridge and Open Defects
    Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
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    44.4 CMOS Inverter
    Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
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    14.3.4 CMOS Logic PE
    Tejinder, Gandhi
    In: Microelectronics Failure Analysis Desk Reference (7th Edition); (2019)
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    75. Design for Failure Analysis in a 24 GHz Low-Noise Amplifier for Short Range Radar Applications Created in Silicon CMOS Technology
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2017 - Conference Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 5-9, 2017, Pasadena Convention Center, Pasadena, California, USA; (2017)
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    Wie komme ich dran?
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    16. Scanning Surface Photovoltage Microscopy (SSPVM) for Stress Analysis in Nanoscale CMOS Devices
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2017 - Conference Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 5-9, 2017, Pasadena Convention Center, Pasadena, California, USA; (2017)
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    99. Experimental Demonstration of the Effects of Laser Pulse Duration on SEU and LADA in CMOS Devices
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    38. Identification of Wet Chemical Deprocessing Induced Artifacts - A Common Problem Affecting All MOS and CMOS Technologies
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    36.2.2 Case Study 2: FA on CMOS Defect
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    22. Capturing Defects in Flip-Chip CMOS Devices Using Backside EBAC Technique and SEM Microscopy
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    11. Complex Waveform Analysis for Advanced CMOS ICs
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    11.3.2 Complex Waveforms Analysis: Common CMOS Circuits
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    11.3.2.2 14 nm MPU CMOS- Pass-Gate/Latch Circuit Waveform Analysis
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2016 - Conference Proceedings from the 42nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 6-10, 2016, Fort Worth Convention Center, Fort Worth, Texas, USA; (2016)
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    35.4.12 Samsung CMOS SRAM
    In: ISTFA™ 2015 - Conference Proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 1-5, 2015, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA; (2015)
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    30.2.1 Impact of Radiation on CMOS
    In: ISTFA™ 2015 - Conference Proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 1-5, 2015, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA; (2015)
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    78. Ultra-Low Voltage Time-Resolved Emission Measurements from 32 nm SOI CMOS Integrated Circuits
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
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    37. Analysis of an Anomalous CMOS Transistor Exhibiting Drain to Source Leakage - Its Model and Cause
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA; (2014)
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    71. Advanced CMOS Device Fault Isolation Using Frequency Mapping on Passive Structures
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
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    68.2.1 Bias Status at pMOSFETs in CMOS SWD
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
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    61. Electrical Modeling of the Effect of Photoelectric Laser Fault Injection on Bulk CMOS Design
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
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    57. 32nm CMOS SOI Test Site for Emission Tool Evaluation
    International, ASM
    In: ISTFA™ 2013 - Conference Proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3–7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA; (2013)
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