Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- insulating films 5 Treffer
- ldsd 5 Treffer
- low dimensional structures 5 Treffer
- mbe 5 Treffer
- semiconductors 5 Treffer
-
45 weitere Werte:
- infos 4 Treffer
- germanium 3 Treffer
- mne 3 Treffer
- ab initio 2 Treffer
- chromium 2 Treffer
- defects 2 Treffer
- high-k dielectrics 2 Treffer
- impurities 2 Treffer
- leakage 2 Treffer
- mesoscopic structures 2 Treffer
- microfabrication 2 Treffer
- mis capacitors 2 Treffer
- molecular beam epitaxy 2 Treffer
- nanoengineering 2 Treffer
- npms 2 Treffer
- silicides 2 Treffer
- traps 2 Treffer
- xps 2 Treffer
- advanced gate stack technology 1 Treffer
- afm 1 Treffer
- amorphous si 1 Treffer
- as deposited contacts 1 Treffer
- calcium fluoride 1 Treffer
- cet 1 Treffer
- chemical physics 1 Treffer
- cubic gan 1 Treffer
- deep level 1 Treffer
- devices 1 Treffer
- electrical measurements 1 Treffer
- electrical properties 1 Treffer
- electron microscopy 1 Treffer
- gallides 1 Treffer
- ge 1 Treffer
- glyfada 1 Treffer
- hemt 1 Treffer
- hfo2 1 Treffer
- high-k 1 Treffer
- high-k dielectric 1 Treffer
- high-κ oxide 1 Treffer
- iii-nitrides 1 Treffer
- infrared detector 1 Treffer
- ingan 1 Treffer
- micro engineering 1 Treffer
- microengineering 1 Treffer
- molecular beam epitaxy (mbe) 1 Treffer
Verlag
Sprache
32 Treffer
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 88 (2011), Heft 7, S. 1291-1294KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 86 (2009), Heft 7/9, S. 1615-1620KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 86 (2009), Heft NO 3, S. 244-248KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2142-2145KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 80 (2005), S. 146-149KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. S 51-52 (2000), S. 527-534KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 47 (1999), Heft NO 1-4, S. 209-214KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 47 (1999), Heft NO 1-4, S. 201-204KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 46, Heft 1/4, S. 275-278KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 43/44, S. 409-414KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 43/44, S. 661-668KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 43/44, S. 423-430KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 43/44, S. 19-24KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 35, Heft 1/4, S. 451-454KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 28, Heft 1/4, S. 213-216KonferenzZugriff:
-
In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 27, Heft 1/4, S. 99-104KonferenzZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff: