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    Contact PUF: Highly Stable Physical Unclonable Functions Based on Contact Failure Probability in 180 nm, 130 nm, and 28 nm CMOS Processes
    Jeon, Duhyun ; Lee, Dongmin ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST), 2022-06-27, S. 85-88
    Konferenz
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    Transport characterization of CMOS-based devices fabricated with isotopically-enriched 28Si for spin qubit applications
    Elbaz, G. ; Casse, M. ; et al.
    In: ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023-09-11, S. 5-8
    Konferenz
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    CMOS Compatible Techniques for Patch Antennas Realization on Silicon
    Soni, Brijesh Kumar ; Sing, Kamaljeet ; et al.
    In: 2021 2nd International Conference for Emerging Technology (INCET), 2021-05-21, S. 1-5
    Konferenz
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    Process integration of best in class specific-on resistance of 20V to 60V 0.18µm bipolar CMOS DMOS technology
    Hapsari, Emita Yulia ; Kumar, Rahul ; et al.
    In: 2013 IEEE 8th Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC), 2013-10-01, S. 16-19
    Konferenz
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    CMOS-Compatible High-Q Photonic Crystal Cavities
    Dodane, Delphin ; Bourderionnnet, Jerome ; et al.
    In: 2018 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2018-05-01, S. 1-2
    Konferenz
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    Fabrication of Sub-100-nm silicon nanowire devices on SOI wafer by CMOS compatible fabrication process
    Sun, L. N. ; Lee, T. M. H. ; et al.
    In: 2010 IEEE 5th International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, 2010, S. 971-974
    Konferenz
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    Stacked Complementary Field-Effect Transistors: Promises and Challenges
    Lin, Xinnan ; Chan, Mansun
    In: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024-03-03, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    On-chip high performance plasmonic-CMOS components based on horizontal hybrid Cu-SiO2-Si platform
    Chu, Hong-Son ; Zhu, Shiyang ; et al.
    In: 2016 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2016-06-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Process Optimizations for Ge-On-Si Depletion Mode Transistors Using Mesa Architecture
    Choudhary, Sumit ; Schwarz, Daniel ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM), 2022-12-12, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    3D ReRAM arrays and crossbars: Fabrication, characterization and applications
    Adam, G.C. ; Chrakrabarti, B. ; et al.
    In: 2017 IEEE 17th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO), 2017-07-01, S. 844-849
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Effects of Initial Stress on SiGe Capacitive Pressure Sensor
    Li, Jen-Chieh ; Ho, Shin-Jin ; et al.
    In: 2020 IEEE Eurasia Conference on IOT, Communication and Engineering (ECICE), 2020-10-23, S. 118-120
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Planar technology integration of monocrystalline Silicon-membranes using nanoholes
    Ebschke, S. ; Poloczek, R.R. ; et al.
    In: 2013 13th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO 2013), 2013-08-01, S. 1111-1114
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Si-based photodetectors in optical communication
    Das, N. R.
    In: 2009 International Conference on Emerging Trends in Electronic and Photonic Devices & Systems, 2009-12-01, S. 436
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Sensitivity Analysis of SOT-MTJs to Manufacturing Process Variation: A Hardware Security Perspective
    Hossain, Mousam ; Chowdhury, Muhtasim Alam ; et al.
    In: 2024 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2024-04-03, S. 1-5
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    MOSFET-C Filter Design using Genetic Algorithm with Restricted Mutation for Gate Multiplicity
    de Oliveira, Victor R.R. ; Carneiro, Mirella M.de O. ; et al.
    In: 2024 IEEE 15th Latin America Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), 2024-02-27, S. 1-5
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    QuickSim: Efficient and Accurate Physical Simulation of Silicon Dangling Bond Logic
    Drewniok, Jan ; Walter, Marcel ; et al.
    In: 2023 IEEE 23rd International Conference on Nanotechnology (NANO), 2023-07-02, S. 817-822
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Design and Analysis of a Practical RMS Power Detector Using Power MOSFET
    Ravanne, Jules Guiliary ; Then, Yi Lung ; et al.
    In: 2021 IEEE 12th Annual Information Technology, Electronics and Mobile Communication Conference (IEMCON), 2021-10-27, S. 744-748
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An asynchronous hybrid pixel image sensor
    Akrarai, Mohamed ; Margotat, Nils ; et al.
    In: 2021 27th IEEE International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems (ASYNC), 2021-09-01, S. 55-61
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Reconfigurable ASIC Implementation of Asynchronous Recurrent Neural Networks
    Nelson, Spencer ; Kim, Sang Yun ; et al.
    In: 2021 27th IEEE International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems (ASYNC), 2021-09-01, S. 48-54
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    High-resolution and Large Tunable Range Nanophotonic Spectrometer Using a Microring Resonator
    Zheng, S. N. ; Chen, Y. Y. ; et al.
    In: 2018 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2018-05-01, S. 1-2
    Konferenz
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