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    TID effects on a 110 nm CMOS technology for fully depleted monolithic sensors
    Ratti, L. ; Giroletti, S. ; et al.
    In: 2022 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2022-10-03, S. 1-4
    Konferenz
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    A Study of the CMOS Image Sensor Semiconductor Business: Factors Maintaining the Long- Term Manufacturing Technology Superiority of IDM Companies
    Asami, Tetsuya ; Tsujimoto, Masaharu
    In: 2020 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM), 2020-12-15, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    18F autoradiography using pixelated CMOS technology
    Nguyen Pham, Truong ; Finck, Christian ; et al.
    In: 2017 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), 2017-06-01, S. 41-44
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of fully depleted CMOS active pixel sensors on high resistivity substrates for use in a high radiation environment
    Hirono, Toko ; Barbero, Marlon ; et al.
    In: 2016 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room-Temperature Semiconductor Detector Workshop (NSS/MIC/RTSD), 2016-10-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A broadband CMOS amplifier in D band using pole-tuning technique with T-type network
    Luo, Jiang ; He, Jin ; et al.
    In: 2018 IEEE MTT-S International Wireless Symposium (IWS), 2018-05-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Recent ASICs developments in 65nm CMOS technology for high energy physics experiments
    Demaria, Natale
    In: 2015 IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), 2015-12-01, S. 380-383
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Pyroelectric CMOS Compatible Sensor Element Based on Hafnium Oxide Thin Films
    Mart, C. ; Viegas, A. ; et al.
    In: 2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF), 2020-07-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMOS Active-Pixel Sensor in low temperature
    do Rosario, Pedro V. F. ; Salles, Luciana P. ; et al.
    In: 2014 29th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2014-09-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Realization of gate performance using hybrid SET-CMOS pass transistor based logic gate
    Jana, Anindya ; Naskar, Kousik ; et al.
    In: 2013 Annual International Conference on Emerging Research Areas and 2013 International Conference on Microelectronics, Communications and Renewable Energy, 2013-06-01, S. 1-4
    Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design and Test Issues of a SOl CMOS Voltage Controlled Oscillators for Radiation Tolerant Frequency Synthesizers
    Sotskov, Denis ; Elesin, Vadim ; et al.
    In: 2018 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2018-09-01, S. 1-5
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    From Silicon CMOS Technology to Spin Qubits
    Hutin, L.
    In: 2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW), 2019-05-01, S. 1-72
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Second generation monolithic full-depletion radiation sensor with integrated CMOS circuitry
    Segal, J. D. ; Kenney, C. J. ; et al.
    In: IEEE Nuclear Science Symposuim & Medical Imaging Conference, 2010-10-01, S. 1896-1900
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A 10-b 100-MS/s pipelined ADC with an optimized bit-stage resolution in 65nm CMOS technology
    Delizia, P. ; Saccomanno, G. ; et al.
    In: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2010-05-01, S. 4033-4036
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Static and dynamic stability improvement strategies for 6T CMOS low-power SRAMs
    Alorda, B. ; Torrens, G. ; et al.
    In: 2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010), 2010-03-01, S. 429-434
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Analytical expressions for static characteristics of submicron CMOS inverters
    Ulman, S.
    In: 17th International Conference on VLSI, 2004, S. 646-649
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modeling and experimental verification of the effect of gate oxide breakdown on CMOS inverters
    Rodriguez, R. ; Stathis, J.H. ; et al.
    In: 2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st, 2003, S. 11-16
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    An embedded 12-bit 80MS/s A/D/A interface for power-line communications in 0.13 /spl mu/m pure digital CMOS technology
    Delgado-Restituto, M. ; Ruiz-Amaya, J. ; et al.
    In: 2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2005, S. 4626-4629
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Which junction for advanced CMOS?-theory, benchmark and predictions
    Skotnicki, T.
    In: Extended Abstracts of the Fifth International Workshop on Junction Technology, 2005, S. 7-10
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Development of a built-in analog-to-digital converter for a X-ray astronomy detector with the SOI CMOS technology
    Nakashima, Shinya ; Ryu, Syukyo G. ; et al.
    In: 2011 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2011-10-01, S. 1201-1203
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Surface-potential-plus approach for next generation CMOS device modeling
    He, Jin ; Xi, Xuernei ; et al.
    In: The Fourth International Workshop on Junction Technology, 2004. IWJT, 2004, S. 321-324
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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