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  1. In: Grocer, 2023-04-29, S. 75
    Online serialPeriodical
  2. In: Business World, 2023-08-03
    serialPeriodical
  3. Rebiere, Valentin ; Drouot, Antoine ; et al.
    In: IEEE Sensors 2020 ; https://hal.science/hal-02981089 ; IEEE Sensors 2020, Oct 2020, Rotterdam (virtual ), Netherlands. pp.1-4, ⟨10.1109/SENSORS47125.2020.9278887⟩, 2020
    Online Konferenz
  4. In: AdAge, Jg. 91 (2020-04-20), Heft 8
    Online serialPeriodical
  5. In: just-drinks.com, 2020-02-03
    serialPeriodical
  6. Neff, Jack
    In: AdAge, Jg. 90 (2019-07-15), Heft 14
    Online serialPeriodical
  7. Neff, Jack
    In: AdAge, Jg. 89 (2018-12-17), Heft 25
    Online serialPeriodical
  8. Pastorelli, C. ; Mellot, P. ; et al.
    In: International Image Sensor Workshop (IISW'15) ; https://hal.science/hal-01399950 ; International Image Sensor Workshop (IISW'15), Jun 2015, Vaals, Netherlands, 2015
    Konferenz
  9. Kane, Ousmane Magatte ; Lucci, Luca ; et al.
    In: 15th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2020 ; https://hal.science/hal-03462849 ; 15th European Microwave Integrated Circuits Conference, 2021
    Konferenz
  10. Bouyjou, Florent ; Bernal, Olivier ; et al.
    In: Proceedings of the 4th International Workshop on Analogue and Mixed Signal Integrated Circuits For Space Applications (AMICSA 2012) ; AMICSA 2012 - 4th International Workshop on Analogue and Mixed Signal Integrated Circuits For Space Applications ; https://hal.science/hal-00737979 ; AMICSA 2012 - 4th International Workshop on Analogue and Mixed Signal Integrated Circuits For Space Applications, Aug 2012, Noordwijk, Netherlands. Session 1 - Space Application for analog and mixed-signal ASIC, 2012
    Online Konferenz
  11. Neff, Jack
    In: Advertising Age, Jg. 81 (2010-06-14), Heft 24, S. 18
    serialPeriodical
  12. In: Chemistry and Industry, Jg. 82 (2018-04-01), Heft 4, S. 1
    Online serialPeriodical
  13. Dutertre, Jean-Max ; Beroulle, Vincent ; et al.
    In: 14th Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography ; FDTC: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2018
    Online Konferenz
  14. Scouras, Ismini
    In: Electronic Engineering Times, 2005-10-17, S. 73
    Online serialPeriodical
  15. In: Microwave Journal, Jg. 43 (2000-03-01), Heft 3, S. 52
    Online serialPeriodical
  16. In: Electronics Times (Online), 2000-02-07, S. 16
    serialPeriodical
  17. In: Microwave Journal, Jg. 43 (2000), Heft 1, S. 51
    Online serialPeriodical
  18. Learmonth, Michael
    In: Advertising Age, Jg. 84 (2013-01-07), Heft 1
    Online serialPeriodical
    Siehe Detailanzeige für Volltext
  19. Auvergne, Daniel ; Azemard, Nadine ; et al.
    In: Proceedings of the European Conference on Design Automation ; EDAC 1991 - European Conference on Design Automation ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00239374 ; EDAC 1991 - European Conference on Design Automation, Feb 1991, Amsterdam, Netherlands. pp.96-100, ⟨10.1109/EDAC.1991.206368⟩, 1991
    Online Konferenz
  20. In: just-food.com, 2012-05-16
    serialPeriodical
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -