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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Test Structures to Investigate ESD Robustness of Integrated GaN Devices
    Wang, Wei-Cheng ; Ker, Ming-Dou
    In: 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024-04-15, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Test Structures of Cross-Domain Interface Circuits with Deep N-Well Layout to Improve CDM ESD Robustness
    Huang, Huai-Min ; Ker, Ming-Dou
    In: 2024 IEEE 36th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2024-04-15, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Practical Considerations on ESD Testing
    Li, Xunyu ; Hao, Weiquan ; et al.
    In: 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), 2024-04-22, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    MLESD: Machine Learning Assisted Faster On-Chip ESD Convergence Strategy
    Nishad, Sashank ; Kundu, Santanu ; et al.
    In: 2024 37th International Conference on VLSI Design and 2024 23rd International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2024-01-06, S. 281-286
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Design of pHEMT based MMIC frequency multiplier with On-Chip ESD Protection
    Menon, Rahul R ; Valke, Suman R ; et al.
    In: 2023 IEEE Microwaves, Antennas, and Propagation Conference (MAPCON), 2023-12-11, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A High Holding Voltage Diode-Triggered SCR for Low-Voltage ESD Application
    Park, Sora ; Choi, Yoonseo ; et al.
    In: 2024 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2024-01-28, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Modified ESD Generator to Emulate Body Worn Equipment ESD and Human Skin ESD
    Becanovic, Nikola ; Fellner, Gabriel ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Deep Neural Decision Forests for Accurate ESD Prediction: A Novel Approach
    Desai, Dhyani Dhaval ; Mittapalli, Jishnu Saurav ; et al.
    In: 2023 2nd International Conference on Automation, Computing and Renewable Systems (ICACRS), 2023-12-11, S. 1194-1201
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    ESD Behavior of RF Switches and Importance of System Efficient ESD Design
    Mousavi, Seyed Mostafa ; Tauber, Emil ; et al.
    In: 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI), 2023-07-29, S. 504-509
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Reduced RC Time Constant High Voltage Tolerant Supply Clamp for ESD Protection in 16nm FinFET Technology
    Huang, Shudong ; Parthasarathy, Srivatsan ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Detection and Localization of CDM like ESD using a novel Sensor derived from Leaky-Coax
    Fellner, Gabriel ; Pak, Amin ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    25Gbps Automotive Ethernet: System PHY Characterization of ESD Based EM Interferences
    Borda, Jamila Josip ; Gerfers, Friedel
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-6
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Usage of Ansys in Electrostatic Discharge (ESD) Simulations for Automotive Devices
    Rochninski, Pawel ; Zimolag, Karol
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-4
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Measurement of Impulsive Electromagnetic Field Caused by ESD Using A Folded Long-Hexagon Antenna and It’s Transient Characteristics
    Kawamata, Ken ; Ishigami, Shinobu ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-4
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    ESD in CMOS Integrated Circuit
    Wang, Xuyang
    In: 2023 IEEE International Conference on Image Processing and Computer Applications (ICIPCA), 2023-08-11, S. 708-711
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Privacy-Preserving Integration of Face Recognition System and ESD Tester Using Federated Learning
    Lenin, S.B. ; Srivatsan, G. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Circuit Power and Computing Technologies (ICCPCT), 2023-08-10, S. 1246-1250
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Analyzing Repeatability During Air Discharge ESD Tests
    Gopalraj, Mohit ; Sanford, Thane
    In: 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI), 2023-07-29, S. 460-465
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Combination of Implant Shadow and Skin Effects Leading to HV Devices Failure during the ESD Event
    Lee, Jian-Hsing ; Li, Ching-Ho ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-7
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    An Acoustic Method to Measure the Length of an ESD Spark
    Krieger, Carina ; Wiesel, Leonie ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Influence of Return Current Cable Arrangement on Ringing Damped Oscillations in Contact Discharge Calibration Waveform from ESD Generator
    Tozawa, Yukihiro ; Ishida, Takeshi ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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