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    Mesh Partitioning Optimization in Parallel Substructure Method Using Improved HYT Approach : International conference on components, packaging and manufacturing technology; Components, packaging and manufacturing technology
    Shang, Y.L.
    In: KEY ENGINEERING MATERIALS, Jg. 460-461 (2011), S. 558-561
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Whoso thorgh presumpcion... mysdeme hyt: Chaucer's poetic adaptation of the medieval 'book curse' : International conference on Middle English: language and text; Placing Middle English in context
    Arnovick, L.
    In: TOPICS IN ENGLISH LINGUISTICS, 2000, S. 411-426
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Application of an Hyt In Situ Particle Monitor for Selective Nitride Etching on a Lam 4420 (Rainbow) : Minienvironment
    Scharnagl, T.
    In: ANNUAL TECHNICAL MEETING- INSTITUTE OF ENVIRONMENTAL SCIENCES, Jg. 42//PT2, S. 317-322
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Buch
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Konferenz
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    Primary Hypothyroidism is Associated with Decreased Immunoreactivity for Surfactant Protein SP-A, SP-B and SP-C in the HYT/HYT Fetal Mouse Lung : The cell cycle and development
    Ansari, M. ; Devaskar, U. ; et al.
    In: JOURNAL OF INVESTIGATIVE MEDICINE, Jg. 43, Heft SUP//3, S. 434A
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Validation of a novel geometric coordination registration using manual and semi-automatic registration in cone-beam computed tomogram
    Pow, EHN ; Lam, YH ; et al.
    2016
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Novel geometric coordination registration in cone-beam computed tomogram
    Goto, TK ; Luk, HWK ; et al.
    2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Patterned fabric defect detection using a motif-based approach
    Ngan, HYT ; Yung, NHC ; et al.
    2006
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    NASA SUBORBITAL RESEARCH PARTNER MARKET ANALYSIS USING INNO360 : Space
    Guthrie, P. ; Christensen, C. ; et al.
    In: PAPERS - AMERICAN INSTITUTE OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS, Jg. 1, S. 817-827
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Outdoor games in dependence therapy : Kinesiology: new perspectives
    Kirchner, J. ; Hatlova, B. ; et al.
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Image calibration and registration in cone-beam computed tomogram for measuring the accuracy of computer-aided implant surgery
    Ngan, HYT ; Wat, PYP ; et al.
    2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Detection and Reduction of the Yield Impact of Particle Induced Structure Defects at Batch Ion Implanters.
    Schmeide, Matthias ; Kokot, Michael ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 866 (2006-11-13), Heft 1, S. 562-565
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Leakage mitigation for low power microcontroller design in 40nm for Internet-of-Things (IoT)
    Kapoor, Ajay ; Engin, Nur ; et al.
    In: 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2016-07-01, S. 126-129
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Influence of olive anthracnose and olive fruit fly on bioactive compounds of Cobrançosa olive oils
    Gouveia, C. ; Dias, S. Ferreira ; et al.
    2023
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Konferenz
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Defectivity Reduction and Control In Ion Implant Systems Through Hardware and Process Optimization.
    Franke, Dirk-Wito ; Hundt, Falk ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 866 (2006-11-13), Heft 1, S. 441-444
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Reducing yield impact at ion implant process due to particles using in situ particle measurement at sub 0.13 /spl mu/ geometries
    Diop, O. ; Blain, S.
    In: ISSM 2005, IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing,, 2005, S. 381-385
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A yield improvement program using process control and process optimisation for particle reduction using in situ particle monitoring on a Semitool Magnum
    Vogels, L.J.P. ; Dohmen, M.W.C. ; et al.
    In: Proceedings 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Cat. No.98EX223), 1998, S. 11-16
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    In situ particle generation during reactive ion etching of SiO sub 2
    Anderson, H [New Mexico Univ., Albuquerque, NM (United States). Dept. of Chemical and Nuclear Engineering]
    1992
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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