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601 Treffer

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    Comparison between two Kline–Fogleman Modified (KFm) based Stepped Airfoils for better Aerodynamic Performance
    Kabir, Asif ; Akib, Yeasir Mohammad ; et al.
    In: 2019 2nd International Conference on Innovation in Engineering and Technology (ICIET), 2019-12-23, S. 1-5
    Konferenz
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    A Computational Design Approach on KFm Based Modified NACA-4415 for Better Aerodynamic Efficiency
    Kabir, Asif ; Akib, Yeasir Mohammad ; et al.
    In: 2019 5th International Conference on Advances in Electrical Engineering (ICAEE), 2019-09-01, S. 468-472
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Nanoscale investigation of organic semiconductor films by vacuum evaporation and mist deposition using AFM/KFM measurement
    Odaka, Akihiro ; Satoh, Nobuo ; et al.
    In: 2016 19th International Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS), 2016-11-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Local polarization in strontium barium niobate (SBN) epitaxial thin films investigated using Kelvin Force Microscopy (KFM)
    Cuniot-Ponsard, Mireille
    In: Proceedings of ISAF-ECAPD-PFM 2012, Applications of Ferroelectrics held jointly with 2012 European Conference on the Applications of Polar Dielectrics and 2012 International Symp Piezoresponse Force Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials (ISAF/ECAPD/PFM), 2012-07-01, S. 1-3
    Konferenz
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    Realization of reinforcement learning using multi-winners KFM associative memory
    Ikeya, Takahiro ; Osana, Yuko
    In: 2009 IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics, 2009-10-01, S. 3806
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of surface potential and capacitance on CdS/Cu(In,Ga)Se2 multi-layers by KFM and EFM
    Ishii, T. ; Minemoto, T. ; et al.
    In: 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2015-06-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Variable-sized KFM associative memory with refractoriness based on area representation
    Imabayashi, Tomohisa ; Osana, Yuko
    In: 2009 IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics, 2009-10-01, S. 3812
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    KFM evaluation of seebeck coefficient in thin SOI layers
    Ikeda, Hiroya ; Suzuki, Yuhei ; et al.
    In: 2013 International Conference on QiR, 2013-06-01, S. 35-38
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Characterization of electronic charged states of self-aligned coupled Si quantum dots by AFM/KFM probe technique
    Makihara, Katsunori ; Tsunekawa, Naoki ; et al.
    In: 2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting (ISTDM), 2014-06-01, S. 125-126
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Study on Sub-100-NM-Scale Measurement of Temperature Distribution in Joule-Heated Au Nanosheet Gas Sensors Using Self-Assembled Monolayers as Temperature Probes
    Kato, Taro ; Tanaka, Takahisa ; et al.
    In: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023-03-07, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design and Implementation of KFMS for Digital Forensics
    Sun, Jae Hoon ; Yoon, Hyun Seok ; et al.
    In: 2008 International Conference on Information Science and Security (ICISS 2008), 2008, S. 214
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Application of Kelvin Probe Force Microscopy (KFM) to Evidence Localized Corrosion of Over-Aged Aeronautical 2024 Aluminum Alloy : Aircraft materials; Behaviour of materials
    Radutoiu, N. ; Alexis, J. ; et al.
    In: KEY ENGINEERING MATERIALS, Jg. 550 (2013), S. 127-134
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The protocol of KFM characterization on cross-section of CdS/CdTe thin film solar cell : Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics
    You, L. ; Chevalier, N. ; et al.
    In: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS, Jg. 1395 (2011), S. 118-122
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    KFM Observation of Electron Charging and Discharging in Phosphorus-Doped SOI Channel : Technology evolution for silicon nano-electronics
    Anwar, M. ; Moraru, D. ; et al.
    In: KEY ENGINEERING MATERIALS, Jg. 470 (2011), S. 33-38
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Reinforcement Learning by KFM Probabilistic Associative Memory Based on Weights Distribution and Area Neuron Increase and Decrease : Neural information processing: theory and algorithms : 17th international conference, ICONIP 2010, Sydney, Australia, November 22-25, 2010 : proceedings, Part 1
    Hada, T. ; Osana, Y.
    In: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE, 2010, Heft 6443, S. 405-413
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    KFM detection of charges injected by AFM into a thin SiO~2 layer containing Si nanocrystals : Materials and emerging technologies for non-volatile-memory devices
    Dumas, C. ; Ressier, L. ; et al.
    In: MICROELECTRONIC ENGINEERING, Jg. 85 (2008), Heft 12, S. 2358-2361
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    KFM Observation of Atmospheric Corrosion on Low Alloy Steels Near the Seashore Environment : Corrosion in marine and saltwater environments
    Masuda, H. ; Katayama, H.
    In: PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV, 2004, Heft 14, S. 111-120
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Tip-to-sample distance dependence of an electrostatic force in KFM measurements : SPM 2003: proceedings of the fifth international conference on scanning probe microscopy, sensors, and nanostructures
    Takahashi, T. ; Ono, S.
    In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 100 (2004), Heft NO 3-4, S. 287-292
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CHARACTERIZATION OF FERROELECTRIC PROPERTIES OF PZT GRAINS UTILIZING KFM MEASUREMENTS : Integrated ferroelectrics (ISIF-15)
    Heo, J. ; Kim, D. ; et al.
    In: INTEGRATED FERROELECTRICS, Jg. S 52-59 (2003), S. 421-430
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Morphology of MDMO-PPV:PCBM bulk heterojunction organic solar cells studied by AFM, KFM, and TEM [4801-09] : Organic photovoltaics
    Martens, T. ; Beelen, Z. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4801 (2003), S. 40-47
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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