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    Development of Johnson Noise Thermometer Using Quantum Voltage Noise Source
    Urano, C. ; Okazaki, Y. ; et al.
    In: 2015 15th International Superconductive Electronics Conference (ISEC), 2015-07-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Frequency-Dependent Verification of the Quantum Accuracy of a Quantum Voltage Noise Source
    Kraus, M. ; Kieler, O. ; et al.
    In: 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), 2018-07-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Quantum voltage noise source chip development at NIM
    Zhong, Y. ; Wang, L. ; et al.
    In: 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), 2018-07-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Improvements in the NIST Johnson noise thermometry system
    Benz, S. P. ; Rogalla, H. ; et al.
    In: 2008 Conference on Precision Electromagnetic Measurements Digest, 2008-06-01, S. 36
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Johnson noise thermometry measurement of the Boltzmann constant with a 200 Ω sense resistor
    Pollarolo, A. ; Jeong, T. ; et al.
    In: 2012 Conference on Precision electromagnetic Measurements, 2012-07-01, S. 214-215
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Ratiometric Method for Johnson Noise Thermometry Using a Quantized Voltage Noise Source.
    Nam, S. W. ; Benz, S. P. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 684 (2003-09-29), Heft 1, S. 37-42
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Superposition Johnson Noise Thermometry with a Quantum Voltage Noise Source for Calibration
    Zhou, Kunli ; Han, Qina ; et al.
    In: 2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM), 2020-08-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    New Log And Core Analysis Methods For An Enhanced Shaly Sand Saturation, Using A ''M*'' Varying Mth The Clay Content
    Levallois, Benoit ; TotalFinaElf
    In: SPWLA 42nd Annual Logging Symposium, 2001, S. 11
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Reconciliation Of Waxman-Smits And Juhasz ''Normalised Qv'' Models From A Tensor Petrophysical Model Approach Using Held Data
    van Popta, J ; Atlas, Baker ; et al.
    In: SPWLA 41st Annual Logging Symposium, 2000, S. 14
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Improvements to the Johnson noise thermometry system for measurements at 505 - 800 K.
    Yamazawa, K. ; Tew, W. L. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 1552 (2013-09-11), Heft 1, S. 50-55
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Development of thermodynamic temperature measurement system based on quantum voltage noise source at NMIJ
    Urano, C. ; Yamada, T. ; et al.
    In: 29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), 2014-08-01, S. 30-31
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Johnson Noise Thermometry using a Quantum Voltage Noise Source for Calibration
    Nam, S. ; Benz, S. ; et al.
    In: 2004 Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 2004-06-01, S. 664
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Normalised Qv - The Key To Shaly Sand Evaluation Using The Waxman-Smits Equation In The Absence Of Core Data
    Juhasz, I ; Shell International Petroleum Maatschappii
    In: SPWLA 22nd Annual Logging Symposium, 1981, S. 36
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Reinforcement Learning Variable Neighborhood Search for the Robust Dynamic Bayesian Network Optimization Problem under the Supply Chain Ripple Effect
    Liu, Ming ; Tang, Hao ; et al.
    In: IFAC-PapersOnLine ; 10th IFAC Conference on Manufacturing Modelling, Management and Control (MIM 2022) ; https://hal-univ-evry.archives-ouvertes.fr/hal-03723063 ; 10th IFAC Conference on Manufacturing Modelling, 2022
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Effects of Local Electric Field and Effective Tunnel Mass on the Simulation of Band-to-Band Tunnel Diode Model
    Kim, Kyung Rok ; Dutton, RW
    2005
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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