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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    A novel test and analysis scheme to elucidate tail bit characteristics in STT-MRAM arrays
    Kim, W. ; Pica, V. ; et al.
    In: 2024 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2024-05-12, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Embedded STT-MRAM for Automotive Applications
    Muller, J. ; Pfefferling, B. ; et al.
    In: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024-03-03, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Hard Error Correction in STT-MRAM
    Hemaram, Surendra ; Tahoori, Mehdi B ; et al.
    In: 2024 29th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2024-01-22, S. 752-757
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Electromagnetic Characteriation of STT-MRAM
    Zhang, Yiming ; Gao, Zhenbin ; et al.
    In: 2023 IEEE 7th International Symposium on Electromagnetic Compatibility (ISEMC), 2023-10-20, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Fault-Aware ECC Scheme for Enhancing the Read Reliability of STT-MRAMs
    Wu, Meng-Shan ; Chua, Yen-Lin ; et al.
    In: 2023 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2023-09-12, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    STT-MRAM Stochastic and Defects-aware DTCO for Last Level Cache at Advanced Process Nodes
    Garcia-Redondo, F. ; Rao, S. ; et al.
    In: ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023-09-11, S. 97-100
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    An In-Memory-Computing STT-MRAM Macro with Analog ReLU and Pooling Layers for Ultra-High Efficient Neural Network
    Jiang, Linjun ; Sun, Sifan ; et al.
    In: 2023 IEEE 12th Non-Volatile Memory Systems and Applications Symposium (NVMSA), 2023-08-01, S. 44-49
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Microscopic Modeling of MgO Barrier Degradation Due to Interface Oxygen Frenkel Defects in Scaled MTJ Toward High-Density STT-MRAM
    Takashima, Rina ; Koike, Takeo ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    STT-MRAM Based Highly Orthogonal Hypervector Generator for Hyperdimensional Computing
    Wang, You ; Xu, Yefan ; et al.
    In: 2023 IEEE 23rd International Conference on Nanotechnology (NANO), 2023-07-02, S. 666-670
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Static Unstable STT Overload Control on High-order Fully Actuated System Theory
    Liu, Xinyu ; Hao, Mingrui ; et al.
    In: 2023 6th International Symposium on Autonomous Systems (ISAS), 2023-06-23, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    SPICE 기반 모델링을 이용한 STT와 SHE 소자의 스위칭 현상 비교 및 분석
    김혜림 (Hyerim Kim) ; 서영교 (Yeongkyo Seo)
    In: Proceedings of KIIT Conference, Jg. 2023 (2023-11-30), Heft 11, S. 906-908
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    14nm High-Performance MTJ with Accelerated STT-Switching and High-Retention Doped Co-Pt Alloy Storage Layer for 1Znm MRAM
    Nakayama, Masahiko ; Oikawa, Soichi ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Dual QSPI 8Gb STT-MRAM For Space Applications
    Wang, Z. ; Wei, Z. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Recent Technology Insights on STT-MRAM: Structure, Materials, and Process Integration
    Choe, Jeongdong
    In: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2023-05-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    TAM: A Computing in Memory based on Tandem Array within STT-MRAM for Energy-Efficient Analog MAC Operation
    Wang, Jinkai ; Gu, Zhengkun ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Comprehensive study on prediction of endurance properties from breakdown voltage in high-reliable STT-MRAM
    Sato, H. ; Shin, H. M. ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-5
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Backhopping-based STT-MRAM Poisson Spiking Neuron for Neuromorphic Computation
    Tan, J. ; Lim, J.H. ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A 129.83 TOPS/W Area Efficient Digital SOT/STT MRAM-Based Computing-In-Memory for Advanced Edge AI Chips
    Lu, Lu ; Mani, Aarthy ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2023-05-21, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A Novel Voltage Based In-Memory Computing Architecture using STT-MRAM
    K V, Sai Sumukha ; Raju R, Prajwal ; et al.
    In: 2023 IEEE 8th International Conference for Convergence in Technology (I2CT), 2023-04-07, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Real-time electrical measurements during laser attack on STT-MRAM
    Yazigy, Nicole ; Postel-Pellerin, Jeremy ; et al.
    In: 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023-03-27, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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