Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
40 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Sprache

40 Treffer

Sortierung: 
  1. Chen, Zhen ; Zhou, Di ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 72 (2023), Heft 3, S. 1038-1052
    Online serialPeriodical
  2. Chen, Zhen ; Zhou, Di ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 72 (2022), Heft 3, S. 1038-1052
    Online serialPeriodical
  3. Xu, Yue ; Pi, Dechang ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 71 (2021), Heft 4, S. 1501-1512
    Online serialPeriodical
  4. Baladeh, Aliakbar Eslami ; Zio, Enrico
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 70 (2021), Heft 1, S. 99-109
    Online serialPeriodical
  5. Fan, Mengfei ; Zeng, Zhiguo ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 68 (2019), Heft 1, S. 317-329
    Online serialPeriodical
  6. Du, Shijia ; Zio, Enrico ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 67 (2018), Heft 1, S. 118-128
    Online serialPeriodical
  7. Rigamonti, Marco ; Baraldi, Piero ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 67 (2018), Heft 3, S. 1304-1313
    Online serialPeriodical
  8. Compare, M. ; Bellani, L. ; et al.
    In: IEEE transactions on reliability, Jg. 66 (2017), Heft 2, S. 487-501
    Online serialPeriodical
  9. Liu, L. ; Li, X. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 66 (2017), Heft 3, S. 603-615
    Online serialPeriodical
  10. Zio, E.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 65 (2016), Heft 4, S. 1769-1782
    Online serialPeriodical
  11. Zhao, W. ; Tao, T. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 65 (2016), Heft 3, S. 1393-1405
    Online serialPeriodical
  12. Hu, Y. ; Baraldi, P. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 65 (2016), Heft 2, S. 718-735
    Online serialPeriodical
  13. Fang, Y. P. ; Pedroni, N. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 65 (2016), Heft 2, S. 502-512
    Online serialPeriodical
  14. Lin, Y. H. ; Li, Y. F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 65 (2016), Heft 2, S. 547-557
    Online serialPeriodical
  15. Compare, M. ; Martini, F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 65 (2016), Heft 2, S. 574-581
    Online serialPeriodical
  16. Liu, J. ; Vitelli, V. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 64 (2015), Heft 4, S. 1203-1213
    Online serialPeriodical
  17. Baraldi, P. ; Di Maio, F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 64 (2015), Heft 3, S. 852-860
    Online serialPeriodical
  18. Fink, O. ; Zio, E. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 64 (2015), Heft 3, S. 1049-1056
    Online serialPeriodical
  19. Fink, O. ; Zio, E. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 64 (2015), Heft 3, S. 861-868
    Online serialPeriodical
  20. Compare, M. ; Zio, E.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY, Jg. 64 (2015), Heft 2, S. 645-660
    Online serialPeriodical
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -