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  1. Du, Yangming ; Yan, Hongyang ; et al.
    In: IEEE transactions on electron devices, Jg. 70 (2022), Heft 1, S. 178-184
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  2. Nela, Luca ; Erine, Catherine ; et al.
    In: IEEE journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 1066-1075
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  7. Wu, Lijuan ; Wu, Yiqing ; et al.
    In: Micro & nano letters, Jg. 14 (2019), Heft 6, S. 600-603
    Online serialPeriodical
  8. Du, Yangming ; Yan, Hongyang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023), Heft 1, S. 178-184
    Online serialPeriodical
  9. Ferrotto, Marco F. ; Cavaleri, Liborio ; et al.
    In: Computers & Concrete, Jg. 22 (2018), Heft 2, S. 143-152
    serialPeriodical
  10. In: The Food Institute Report, Jg. 92 (2019-04-08), Heft 14, S. 12
    serialPeriodical
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  16. Sharbati, Samaneh ; Ebel, Thomas ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 114 (2020)
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