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21 Treffer

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    Working and knowing in the history of STM: Ways of knowing. A new history of science, technology and medicine John V. Pickstone; Manchester University Press, Manchester, 2000, pp. xii+271, Price £9.99 paperback, ISBN 0-7190-5994-1.
    Klein, Ursula
    In: Studies in History and Philosophy of Science, Jg. 35 (2004), Heft 1, S. 159-172
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    Terapéutica cardiovascular (tomos I y II)
    Ferreira Montero, Ignacio J.
    In: Revista Española de Cardiología, Jg. 57 (2004), Heft 9, S. 899-899
    Online review
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    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Electronic publishing: Implications for libraries and librarians part I: Two views—The commercial STM publisher and the library educator: A report of ALCTS electronic publishing discussion group
    Nissley, Meta J.
    In: Library Acquisitions: Practice and Theory, Jg. 18 (1994), Heft 1, S. 108-110
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    Wie komme ich dran?
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    STM and SFM in biology: edited by OTHMAR MARTI and MATTHIAS AMREIN Academic Press, 1993, ISBN 0-12-474500-8, 331 pages, Price (USA) $69.95
    Cox, Guy
    In: Micron, Jg. 25 (1994), Heft 5, S. 493-493
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    Wie komme ich dran?
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    Park scientific instruments introduces dual (AFM/STM) UHV scanning probe microscope (SPM)
    In: III-Vs Review, Jg. 6 (1993), Heft 5, S. 60-60
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    Wie komme ich dran?
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    III-V MBE / UHV STM
    In: III-Vs Review, Jg. 6 (1993), Heft 2, S. 63-63
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    Wie komme ich dran?
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    The awards of science and other essays: Essays of an information scientist: v.7 E. Garfield, ISI Press, Philadelphia, PA. (1985). 675 pp., $30.00. ISBN 0-89495-044-4. Distributed in Europe by STM Distribution Ltd., Enterprise House, Ashford Road, Ashford, Middlesex, TW15 1XB, England.
    McCain, Katherine W.
    In: Information Processing and Management, Jg. 22 (1986), Heft 4, S. 366-367
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    Wie komme ich dran?
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    Organic MBE and organic STM for ‘nanoscopic’ materials: Hara, M.; Burrows, P. E.; Garito, A. F.; Sasabe, H. Nonlinear Optics, Principles, Materials, Phenomena and Devices - 1st Symposium on Nanoscopic Science and Technology for Low Dimensional Materials; 1991 Mar 12; Saitama, Japan. 1992. 253–260
    In: Precision Engineering, Jg. 16 (1994), Heft 2, S. 154-154
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    Wie komme ich dran?
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    Nanoscopic molecular engineering: organic MBE and STM: Hara, M; Garito, A. F; Sasabe, H; Chiang, L. Y; Garito, A. F; Sandman, D. J. Electrical, Optical, and Magnetic Properties of Organic Solid State Materials; 1991 Dec; Boston, MA. Pittsburgh, PA: Mater. Res. Soc; 1992. 805-16
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 4, S. 301-301
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    Damage of STM tips during nanofabrication: Yokoi, N; Namba, S; Takai, M. Advanced Materials for Optics and Electronics NATO ASI Workshop on In-situ Processing; 1927 Apr. 1; Viana do Castelo, Portugal; 1993 Feb; 71-7
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 4, S. 295-295
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    Wie komme ich dran?
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    Nanomechanism: Nakagiri, N. Scanned Probe Microscopy — STM and Beyond Conference; 1991 Jan 6; Santa Barbara, CA.: AIP; 1991. 357–370 pages
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 1, S. 59-59
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    Nano-fabrication on silicon at high temperature in a UHV-STM: Iwatsuki, M.; Kitamura, S.; Sato, T.; Sueyoshi, T. Nanotechnology - International Workshop on Atoms and Clusters (WAC-92); 1992 Jan 8; Atami, Japan. 1992 Jul. 137-41
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 3, S. 206-207
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    Fabrication of atomic-scale structures on SI(111)-7* *7 using a scanning tunneling microscope (STM) : Huang, D.; Uchida, H.; Aono, M. Japanese Journal of Applied Physics, Part 1 (Regular Papers & Short Notes) — 5th (4th International) MicroProcess Conference (MPC 92); 1992 Jul 13; Kawasaki, Japan. 1992 Dec. 4501-3
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 3, S. 203-203
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Change in scanning tunneling microscope (STM) tip shape during nanofabrication: Yokoi, N.; Ueda, S.; Namba, S.; Takai, M. Japanese Journal of Applied Physics, Part 2 (Letters). 1993 Jan 15
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 3, S. 201-201
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    AFM and STM activities at advanced technologies center: Moiseev, Yu N.; Panov, V. I.; Savinov, S. V.; Vasil'ev, S. I.; Yaminsky, I. V. Ultramicroscopy. 1992 Jul; 42–44(Part B): 1596–1601
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 3, S. 199-199
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    6th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy - STM '91: Descouts, Pierre (Ed).; Siegenthaler, Hans (Ed). Ultramicroscopy. 1992 Jul.; 42–44(Part B): 963–1717
    In: Precision Engineering, Jg. 15 (1993), Heft 3, S. 199-199
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    STM has built-in SEM
    In: Precision Engineering, Jg. 11 (1989), Heft 4, S. 250-251
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    News from VG microtech: Combined STM/XPS instrument delivered to Japan
    In: Vacuum, Jg. 44 (1993), Heft 3, S. 404-404
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    New from VG and microtech: New scanning tunneling microscope (STM)
    In: Vacuum, Jg. 44 (1993), Heft 3, S. 397-397
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    Proceedings of the American Society for Testing and Materials: STM, Philadelphia, Vol 67 (1967) 557pp
    In: Non-Destructive Testing, Jg. 1 (1968), Heft 4, S. 251-251
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    Wie komme ich dran?
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