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In: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) ; https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-03356354 ; 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Dec 2019, San Francisco, United States. pp.14.3.1-14.3.4, ⟨10.1109/IEDM19573.2019.8993431⟩, 2019KonferenzZugriff:
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In: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) ; https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-03356354 ; 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Dec 2019, San Francisco, United States. pp.14.3.1-14.3.4, ⟨10.1109/IEDM19573.2019.8993431⟩, 2019KonferenzZugriff:
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In: 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) ; https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-03356354 ; 2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), Dec 2019, San Francisco, United States. pp.14.3.1-14.3.4, ⟨10.1109/IEDM19573.2019.8993431⟩, 2019KonferenzZugriff: