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    A Study of the Radiation Tolerance of CVD Diamond to 70 MeV Protons, Fast Neutrons and 200 MeV Pions
    Bäni, Lukas ; Alexopoulos, Andreas ; et al.
    In: ISSN: 1424-8220 ; Sensors ; https://hal.science/hal-03032394 ; Sensors, 2020, 2020
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    A Study of the Radiation Tolerance of CVD Diamond to 70 MeV Protons, Fast Neutrons and 200 MeV Pions
    Bäni, Lukas ; Alexopoulos, Andreas ; et al.
    In: ISSN: 1424-8220 ; Sensors ; https://hal.science/hal-03032394 ; Sensors, 2020, 2020
    Online academicJournal
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    A Study of the Radiation Tolerance of CVD Diamond to 70 MeV Protons, Fast Neutrons and 200 MeV Pions
    Bäni, Lukas ; Alexopoulos, Andreas ; et al.
    In: ISSN: 1424-8220 ; Sensors ; https://hal.science/hal-03032394 ; Sensors, 2020, 2020
    Online academicJournal
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    A Study of the Radiation Tolerance of CVD Diamond to 70 MeV Protons, Fast Neutrons and 200 MeV Pions
    Bäni, Lukas ; Alexopoulos, Andreas ; et al.
    In: ISSN: 1424-8220 ; Sensors ; https://hal.science/hal-03032394 ; Sensors, 2020, 2020
    Online academicJournal
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    A Study of the Radiation Tolerance of CVD Diamond to 70 MeV Protons, Fast Neutrons and 200 MeV Pions
    Bäni, Lukas ; Alexopoulos, Andreas ; et al.
    In: ISSN: 1424-8220 ; Sensors ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03032394 ; Sensors, MDPI, 2020, 2020
    Online academicJournal
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    Analysis of Deep Level Defects in GaN p-i-n Diodes after Beta Particle Irradiation
    Belhasene, Sofiane ; Al Saqri, Noor Alhuda ; et al.
    In: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-01257014 ; Electronics, 2015, 2015
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    Analysis of Deep Level Defects in GaN p-i-n Diodes after Beta Particle Irradiation
    Belhasene, Sofiane ; Al Saqri, Noor Alhuda ; et al.
    In: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-01257014 ; Electronics, 2015, 2015
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    Analysis of Deep Level Defects in GaN p-i-n Diodes after Beta Particle Irradiation
    Belhasene, Sofiane ; Al Saqri, Noor Alhuda ; et al.
    In: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-01257014 ; Electronics, 2015, 2015
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    Analysis of Deep Level Defects in GaN p-i-n Diodes after Beta Particle Irradiation
    Belhasene, Sofiane ; Al Saqri, Noor Alhuda ; et al.
    In: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-01257014 ; Electronics, 2015, 2015
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    Analysis of Deep Level Defects in GaN p-i-n Diodes after Beta Particle Irradiation
    Belhasene, Sofiane ; Al Saqri, Noor Alhuda ; et al.
    In: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-01257014 ; Electronics, 2015, 2015
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    Analysis of Deep Level Defects in GaN p-i-n Diodes after Beta Particle Irradiation
    Belhasene, Sofiane ; Al Saqri, Noor Alhuda ; et al.
    In: ISSN: 2079-9292 ; Electronics ; https://hal.science/hal-01257014 ; Electronics, 2015, 2015
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