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    Numerical investigation of the effect of soot aggregation on the radiative properties in the infrared region and radiative heat transfer
    Eymet, Vincent ; Brasil, a M ; et al.
    In: ISSN: 0022-4073 ; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer ; https://hal.science/hal-01712162 ; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer, 2002, 74 (6), pp.697-718. ⟨10.1016/S0022-4073(01)00280-1⟩, 2002
    Online academicJournal
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    Numerical investigation of the effect of soot aggregation on the radiative properties in the infrared region and radiative heat transfer
    Eymet, Vincent ; Brasil, A M ; et al.
    In: ISSN: 0022-4073 ; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01712162 ; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer, Elsevier, 2002, 74 (6), pp.697-718. ⟨10.1016/S0022-4073(01)00280-1⟩, 2002
    Online academicJournal
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    Compact model of magnetic tunnel junction with stochastic spin transfer torque switching for reliability analyses
    Wang, You ; Zhang, Yue ; et al.
    In: ISSN: 0026-2714, 2014
    academicJournal
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    Compact model of magnetic tunnel junction with stochastic spin transfer torque switching for reliability analyses
    Wang, You ; Zhang, Yue ; et al.
    In: ISSN: 0026-2714, 2014
    academicJournal
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    A comprehensive compact model for the design of all-spin-logic based circuits
    An, Qi ; Le Beux, Sébastien ; et al.
    In: ISSN: 0026-2692 ; Microelectronics Journal ; https://hal.science/hal-02060226 ; Microelectronics Journal, 2018, ⟨10.1016/j.mejo.2018.11.003⟩, 2018
    Online academicJournal
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    A comprehensive compact model for the design of all-spin-logic based circuits
    An, Qi ; Le Beux, Sébastien ; et al.
    In: ISSN: 0026-2692 ; Microelectronics Journal ; https://hal.science/hal-02060226 ; Microelectronics Journal, 2018, ⟨10.1016/j.mejo.2018.11.003⟩, 2018
    Online academicJournal
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    A comprehensive compact model for the design of all-spin-logic based circuits
    An, Qi ; Le Beux, Sébastien ; et al.
    In: ISSN: 0026-2692 ; Microelectronics Journal ; https://hal.science/hal-02060226 ; Microelectronics Journal, 2018, ⟨10.1016/j.mejo.2018.11.003⟩, 2018
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A comprehensive compact model for the design of all-spin-logic based circuits
    An, Qi ; Le Beux, Sébastien ; et al.
    In: ISSN: 0026-2692 ; Microelectronics Journal ; https://hal.science/hal-02060226 ; Microelectronics Journal, 2018, ⟨10.1016/j.mejo.2018.11.003⟩, 2018
    Online academicJournal
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    A comprehensive compact model for the design of all-spin-logic based circuits
    An, Qi ; Le Beux, Sébastien ; et al.
    In: ISSN: 0026-2692 ; Microelectronics Journal ; https://hal.science/hal-02060226 ; Microelectronics Journal, 2018, ⟨10.1016/j.mejo.2018.11.003⟩, 2018
    Online academicJournal
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    A comprehensive compact model for the design of all-spin-logic based circuits
    An, Qi ; Le Beux, Sébastien ; et al.
    In: ISSN: 0026-2692 ; Microelectronics Journal ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02060226 ; Microelectronics Journal, Elsevier, 2018, ⟨10.1016/j.mejo.2018.11.003⟩, 2018
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    Integration of experimental facilities: A joint effort for establishing a common knowledge base in experimental work on hydrogen safety
    Reinecke, Ernst-Arendt ; Huebert, T. ; et al.
    In: ISSN: 0360-3199, 2011
    academicJournal
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    Integration of experimental facilities: A joint effort for establishing a common knowledge base in experimental work on hydrogen safety
    Reinecke, Ernst-Arendt ; Huebert, T. ; et al.
    In: ISSN: 0360-3199, 2011
    academicJournal
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    Integration of experimental facilities: A joint effort for establishing a common knowledge base in experimental work on hydrogen safety
    Reinecke, Ernst-Arendt ; Huebert, T. ; et al.
    In: ISSN: 0360-3199, 2011
    academicJournal
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    Integration of experimental facilities: A joint effort for establishing a common knowledge base in experimental work on hydrogen safety
    Reinecke, Ernst-Arendt ; Huebert, T. ; et al.
    In: ISSN: 0360-3199, 2011
    academicJournal
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    Defect evolution and dopant activation in laser annealed Si and Ge
    Cristiano, Fuccio ; Shayesteh, M. ; et al.
    In: ISSN: 1369-8001 ; Materials Science in Semiconductor Processing ; https://hal.science/hal-01921268 ; Materials Science in Semiconductor Processing, 2016, 42, pp.188 - 195. ⟨10.1016/j.mssp.2015.09.011⟩, 2016
    academicJournal
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    Defect evolution and dopant activation in laser annealed Si and Ge
    Cristiano, Fuccio ; Shayesteh, M. ; et al.
    In: ISSN: 1369-8001 ; Materials Science in Semiconductor Processing ; https://hal.science/hal-01921268 ; Materials Science in Semiconductor Processing, 2016, 42, pp.188 - 195. ⟨10.1016/j.mssp.2015.09.011⟩, 2016
    academicJournal
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    Defect evolution and dopant activation in laser annealed Si and Ge
    Cristiano, Fuccio ; Shayesteh, M. ; et al.
    In: ISSN: 1369-8001 ; Materials Science in Semiconductor Processing ; https://hal.science/hal-01921268 ; Materials Science in Semiconductor Processing, 2016, 42, pp.188 - 195. ⟨10.1016/j.mssp.2015.09.011⟩, 2016
    academicJournal
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    Defect evolution and dopant activation in laser annealed Si and Ge
    Cristiano, Fuccio ; Shayesteh, M. ; et al.
    In: ISSN: 1369-8001 ; Materials Science in Semiconductor Processing ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01921268 ; Materials Science in Semiconductor Processing, Elsevier, 2016, 42, pp.188 - 195. ⟨10.1016/j.mssp.2015.09.011⟩, 2016
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    Compact thermal modeling of spin transfer torque magnetic tunnel junction
    Wang, You ; Cai, Hao ; et al.
    In: ISSN: 0026-2714, 2015
    academicJournal
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    Synthesis and Optimization of Ti–TiN multilayered protective nanocoatings on Zr-based bulk metallic glass
    Tekaya, A. ; Labdi, S. ; et al.
    In: ISSN: 0257-8972, 2011
    academicJournal
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