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    New Modelling Off-state TDDB for 130nm to 28nm CMOS nodes
    Garba-Seybou, Tidjani ; Federspiel, Xavier ; et al.
    In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) ; https://hal.science/hal-03659269 ; 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2022, Dallas, United States. pp.11A.3-1-11A.3-7, ⟨10.1109/IRPS48227.2022.9764431⟩, 2022
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    New Modelling Off-state TDDB for 130nm to 28nm CMOS nodes
    Garba-Seybou, Tidjani ; Federspiel, Xavier ; et al.
    In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) ; https://hal.science/hal-03659269 ; 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2022, Dallas, United States. pp.11A.3-1-11A.3-7, ⟨10.1109/IRPS48227.2022.9764431⟩, 2022
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    New Modelling Off-state TDDB for 130nm to 28nm CMOS nodes
    Garba-Seybou, Tidjani ; Federspiel, Xavier ; et al.
    In: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) ; https://hal.science/hal-03659269 ; 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Mar 2022, Dallas, United States. pp.11A.3-1-11A.3-7, ⟨10.1109/IRPS48227.2022.9764431⟩, 2022
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    3D Electro-optical Simulations for Improving the Photon Detection Probability of SPAD Implemented in FD-SOI CMOS Technology
    Gao, S. ; Issartel, D. ; et al.
    In: 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) ; https://shs.hal.science/halshs-03515486 ; 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Sep 2021, Dallas, United States. pp.301-304, ⟨10.1109/SISPAD54002.2021.9592555⟩, 2021
    Online Konferenz
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    3D Electro-optical Simulations for Improving the Photon Detection Probability of SPAD Implemented in FD-SOI CMOS Technology
    Gao, S. ; Issartel, D. ; et al.
    In: 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) ; https://shs.hal.science/halshs-03515486 ; 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Sep 2021, Dallas, United States. pp.301-304, ⟨10.1109/SISPAD54002.2021.9592555⟩, 2021
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    3D Electro-optical Simulations for Improving the Photon Detection Probability of SPAD Implemented in FD-SOI CMOS Technology
    Gao, S. ; Issartel, D. ; et al.
    In: 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) ; https://shs.hal.science/halshs-03515486 ; 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Sep 2021, Dallas, United States. pp.301-304, ⟨10.1109/SISPAD54002.2021.9592555⟩, 2021
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    3D Electro-optical Simulations for Improving the Photon Detection Probability of SPAD Implemented in FD-SOI CMOS Technology
    Gao, S. ; Issartel, D. ; et al.
    In: 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) ; https://shs.hal.science/halshs-03515486 ; 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Sep 2021, Dallas, United States. pp.301-304, ⟨10.1109/SISPAD54002.2021.9592555⟩, 2021
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    3D Electro-optical Simulations for Improving the Photon Detection Probability of SPAD Implemented in FD-SOI CMOS Technology
    Gao, S. ; Issartel, D. ; et al.
    In: 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) ; https://shs.hal.science/halshs-03515486 ; 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Sep 2021, Dallas, United States. pp.301-304, ⟨10.1109/SISPAD54002.2021.9592555⟩, 2021
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    3D Electro-optical Simulations for Improving the Photon Detection Probability of SPAD Implemented in FD-SOI CMOS Technology
    Gao, S. ; Issartel, D. ; et al.
    In: 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) ; https://shs.hal.science/halshs-03515486 ; 2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Sep 2021, Dallas, United States. pp.301-304, ⟨10.1109/SISPAD54002.2021.9592555⟩, 2021
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    A 26-44GHz 28nm CMOS FD-SOI Slow-Wave Tunable Hybrid Coupler for 5G Application ; Un coupleur hybride accordable à ondes lentes CMOS FD-SOI 26-44 GHz 28 nm pour application 5G
    Diverrez, Gwennael ; Kerherve, Eric ; et al.
    In: 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023 ; https://hal.science/hal-04225781 ; 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023, Jun 2023, San Diego, United States. pp.182-185, ⟨10.1109/ims37964.2023.10188213⟩, 2023
    Konferenz
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    6.6W/mm 200mm CMOS compatible AlN/GaN/Si MIS-HEMT with in-situ SiN gate dielectric and low temperature ohmic contacts
    Morvan, Erwan ; Gobil, Yveline ; et al.
    In: IEDM 2023 - IEEE International Electron Devices Meeting ; https://cea.hal.science/cea-04539880 ; IEDM 2023 - IEEE International Electron Devices Meeting, Dec 2023, San Francisco, United States. ⟨10.1109/IEDM45741.2023.10413676⟩ ; https://ieeexplore.ieee.org/document/10413676, 2023
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    Un amplificateur de puissance Doherty basé sur un coupleur hybride inductif résilient VSWR FD-SOI CMOS 3:1 24-31 GHz 28 nm
    Diverrez, Gwennael ; Kerherve, Eric ; et al.
    In: 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023 ; Symposium international IEEE/MTT-S sur les micro-ondes 2023 - IMS 2023 ; https://hal.science/hal-04234362 ; Symposium international IEEE/MTT-S sur les micro-ondes 2023 - IMS 2023, Jun 2023, San Diego, CA, United States. ⟨10.1109/ims37964.2023.10188066⟩, 2023
    Konferenz
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    A Comparative Study of On-Chip CMOS S&H Voltage Sensors for Power Integrity: SOI vs. Bulk
    Mashaal Khan, Qazi ; Perdriau, Richard ; et al.
    In: 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium ; https://hal.science/hal-03412859 ; 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Jul 2021, Raleigh, United States. pp.911-916, ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559242⟩, 2021
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    A Comparative Study of On-Chip CMOS S&H Voltage Sensors for Power Integrity: SOI vs. Bulk
    Mashaal Khan, Qazi ; Perdriau, Richard ; et al.
    In: 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium ; https://hal.science/hal-03412859 ; 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Jul 2021, Raleigh, United States. pp.911-916, ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559242⟩, 2021
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    A Comparative Study of On-Chip CMOS S&H Voltage Sensors for Power Integrity: SOI vs. Bulk
    Mashaal Khan, Qazi ; Perdriau, Richard ; et al.
    In: 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium ; https://hal.science/hal-03412859 ; 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Jul 2021, Raleigh, United States. pp.911-916, ⟨10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559242⟩, 2021
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    Very High Brightness, High Resolution CMOS Driving Circuit for Microdisplay in Augmented Reality
    Vigier, Margaux ; Pilloix, Thomas ; et al.
    In: IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS) ; MWSCAS 2020 - IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems ; https://cea.hal.science/cea-02953371 ; MWSCAS 2020 - IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems, Aug 2020, Springfield, United States. pp.876-879, ⟨10.1109/MWSCAS48704.2020.9184480⟩, 2020
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    Very High Brightness, High Resolution CMOS Driving Circuit for Microdisplay in Augmented Reality
    Vigier, Margaux ; Pilloix, Thomas ; et al.
    In: IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS) ; MWSCAS 2020 - IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems ; https://cea.hal.science/cea-02953371 ; MWSCAS 2020 - IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems, Aug 2020, Springfield, United States. pp.876-879, ⟨10.1109/MWSCAS48704.2020.9184480⟩, 2020
    Online Konferenz
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    Very High Brightness, High Resolution CMOS Driving Circuit for Microdisplay in Augmented Reality
    Vigier, Margaux ; Pilloix, Thomas ; et al.
    In: IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS) ; MWSCAS 2020 - IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems ; https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-02953371 ; MWSCAS 2020 - IEEE 63rd International Midwest Symposium on Circuits and Systems, Aug 2020, Springfield, United States. pp.876-879, ⟨10.1109/MWSCAS48704.2020.9184480⟩, 2020
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    19.2 A 110mK 295µW 28nm FDSOI CMOS Quantum Integrated Circuit with a 2.8GHz Excitation and nA Current Sensing of an On-Chip Double Quantum Dot
    Guevel, Loick Le ; Billiot, Gerard ; et al.
    In: 2020 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC) ; https://hal.science/hal-02986737 ; 2020 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC), Feb 2020, San Francisco, United States. pp.306-308, ⟨10.1109/ISSCC19947.2020.9063090⟩, 2020
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    19.2 A 110mK 295µW 28nm FDSOI CMOS Quantum Integrated Circuit with a 2.8GHz Excitation and nA Current Sensing of an On-Chip Double Quantum Dot
    Guevel, Loick Le ; Billiot, Gerard ; et al.
    In: 2020 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC) ; https://hal.science/hal-02986737 ; 2020 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC), Feb 2020, San Francisco, United States. pp.306-308, ⟨10.1109/ISSCC19947.2020.9063090⟩, 2020
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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