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    Assessment of the critical dimension prediction accuracy for the lumped parameter model for resist lithography
    Fuard, David ; Schiavone, Patrick ; et al.
    In: ISSN: 0167-9317, 2004
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Assessment of the critical dimension prediction accuracy for the lumped parameter model for resist lithography
    Fuard, David ; Schiavone, Patrick ; et al.
    In: ISSN: 0167-9317, 2004
    Online academicJournal
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    Assessment of the critical dimension prediction accuracy for the lumped parameter model for resist lithography
    Fuard, David ; Schiavone, Patrick ; et al.
    In: ISSN: 0167-9317, 2004
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    Mazet, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    Mazet, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
    Online academicJournal
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    Mazet, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    Mazet, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    Mazet, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
    Online academicJournal
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    MAZET, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
    Online academicJournal
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    Structural study and ferroelectricity of epitaxial BaTiO3 films on silicon grown by molecular beam epitaxy
    Mazet, Lucie ; Bachelet, Romain ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2014
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    Charge photo-carrier transport from silicon nanocrystals embedded in SiO 2 -based multilayer structures
    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Charge photo-carrier transport from silicon nanocrystals embedded in SiO 2 -based multilayer structures
    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Charge photo-carrier transport from silicon nanocrystals embedded in SiO 2 -based multilayer structures
    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Charge photo-carrier transport from silicon nanocrystals embedded in SiO 2 -based multilayer structures
    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Charge photo-carrier transport from silicon nanocrystals embedded in SiO 2 -based multilayer structures
    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Charge photo-carrier transport from silicon nanocrystals embedded in SiO 2 -based multilayer structures
    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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    Dridi Rezgui, B. ; Gourbilleau, F. ; et al.
    In: ISSN: 0021-8979, 2012
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