Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
22 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

22 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS
    Yan, Aibin ; Song, Shukai ; et al.
    In: ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770182 ; ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian, Aug 2022, Taipei, Taiwan. pp.73-78, ⟨10.1109/ITCAsia55616.2022.00023⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS
    Yan, Aibin ; Song, Shukai ; et al.
    In: ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770182 ; ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian, Aug 2022, Taipei, Taiwan. pp.73-78, ⟨10.1109/ITCAsia55616.2022.00023⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Cost-Optimized and Robust Latch Hardened against Quadruple Node Upsets for Nanoscale CMOS
    Yan, Aibin ; Song, Shukai ; et al.
    In: ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770182 ; ITC-Asia 2022 - IEEE International Test Conference in Asian, Aug 2022, Taipei, Taiwan. pp.73-78, ⟨10.1109/ITCAsia55616.2022.00023⟩, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    CMOS SFFDS PA with Coupled Transformer for High Power RF Applications
    Luque, Yohann ; Kerherve, Eric ; et al.
    In: Proceding of ISCAS 2009 ; 2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00363758 ; 2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, May 2009, Taipei, Taiwan. 4 p, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    MIRID: Mixed-Mode IR-Drop Induced Delay Simulator
    Jiang, Jie ; Aparicio Rodriguez, Marina ; et al.
    In: 22nd Asian Test Symposium, 2013
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    MIRID: Mixed-Mode IR-Drop Induced Delay Simulator
    Jiang, Jie ; Aparicio Rodriguez, Marina ; et al.
    In: 22nd Asian Test Symposium, 2013
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    MIRID: Mixed-Mode IR-Drop Induced Delay Simulator
    Jiang, Jie ; Aparicio Rodriguez, Marina ; et al.
    In: 22nd Asian Test Symposium, 2013
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Radiation-Hardened Non-Volatile Magnetic Latch with High Reliability and Persistent Storage
    Yan, Aibin ; Ding, Liang ; et al.
    In: ATS 2022 - 31st IEEE Asian Test Symposium ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770951 ; ATS 2022 - 31st IEEE Asian Test Symposium, Nov 2022, Taichung, Taiwan. ⟨10.1109/ATS56056.2022.00013⟩ ; https://ats2022.ee.nthu.edu.tw/, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Radiation-Hardened Non-Volatile Magnetic Latch with High Reliability and Persistent Storage
    Yan, Aibin ; Ding, Liang ; et al.
    In: ATS 2022 - 31st IEEE Asian Test Symposium ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770951 ; ATS 2022 - 31st IEEE Asian Test Symposium, Nov 2022, Taichung, Taiwan. ⟨10.1109/ATS56056.2022.00013⟩ ; https://ats2022.ee.nthu.edu.tw/, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ADVANCED 3D DESIGN AND TECHNOLOGIES FOR 3-LAYER SMART IMAGER
    Vivet, Pascal ; Arnaud, Lucile ; et al.
    In: 2022 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA) ; https://cea.hal.science/cea-03760523 ; 2022 International Symposium on VLSI Technology, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Radiation-Hardened Non-Volatile Magnetic Latch with High Reliability and Persistent Storage
    Yan, Aibin ; Ding, Liang ; et al.
    In: ATS 2022 - 31st IEEE Asian Test Symposium ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03770951 ; ATS 2022 - 31st IEEE Asian Test Symposium, Nov 2022, Taichung, Taiwan. ⟨10.1109/ATS56056.2022.00013⟩ ; https://ats2022.ee.nthu.edu.tw/, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    ADVANCED 3D DESIGN AND TECHNOLOGIES FOR 3-LAYER SMART IMAGER
    Vivet, Pascal ; Arnaud, Lucile ; et al.
    In: 2022 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA) ; https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-03760523 ; 2022 International Symposium on VLSI Technology, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    ADVANCED 3D DESIGN AND TECHNOLOGIES FOR 3-LAYER SMART IMAGER
    Vivet, Pascal ; Arnaud, Lucile ; et al.
    In: 2022 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA) ; https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-03760523 ; 2022 International Symposium on VLSI Technology, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Outstanding Bit Error Tolerance of Resistive RAM-Based Binarized Neural Networks
    Hirtzlin, T ; Bocquet, Marc ; et al.
    In: IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS) ; https://hal.science/hal-02159142 ; IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS), Mar 2019, Hsinshu, Taiwan. ⟨10.1109/AICAS.2019.8771544⟩ ; http://www.aicas2019.org/, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Outstanding Bit Error Tolerance of Resistive RAM-Based Binarized Neural Networks
    Hirtzlin, T ; Bocquet, Marc ; et al.
    In: IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS) ; https://hal.science/hal-02159142 ; IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS), Mar 2019, Hsinshu, Taiwan. ⟨10.1109/AICAS.2019.8771544⟩ ; http://www.aicas2019.org/, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Outstanding Bit Error Tolerance of Resistive RAM-Based Binarized Neural Networks
    Hirtzlin, T ; Bocquet, Marc ; et al.
    In: IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS) ; https://hal.science/hal-02159142 ; IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS), Mar 2019, Hsinshu, Taiwan. ⟨10.1109/AICAS.2019.8771544⟩ ; http://www.aicas2019.org/, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Outstanding Bit Error Tolerance of Resistive RAM-Based Binarized Neural Networks
    Hirtzlin, T ; Bocquet, Marc ; et al.
    In: IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS) ; https://hal.science/hal-02159142 ; IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS), Mar 2019, Hsinshu, Taiwan. ⟨10.1109/AICAS.2019.8771544⟩ ; http://www.aicas2019.org/, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Outstanding Bit Error Tolerance of Resistive RAM-Based Binarized Neural Networks
    Hirtzlin, T ; Bocquet, Marc ; et al.
    In: IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02159142 ; IEEE International Conference on Artificial Intellignence Circuits and Systems (AICAS), Mar 2019, Hsinshu, Taiwan. ⟨10.1109/AICAS.2019.8771544⟩ ; http://www.aicas2019.org/, 2019
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Investigation of hot carrier reliability of SOI and strained SOI transistors using back bias
    Besnard, G. ; Garros, X. ; et al.
    In: 2015 VLSI-TSA Proceedings ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02008449 ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Investigation of hot carrier reliability of SOI and strained SOI transistors using back bias
    Besnard, G. ; Garros, X. ; et al.
    In: 2015 VLSI-TSA Proceedings ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) ; https://hal.science/hal-02008449 ; 2015 International Symposium on VLSI Technology, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -