Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
30 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

30 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint
    Bonhomme, Yannick ; Girard, Patrick ; et al.
    In: ITC: International Test Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269529 ; ITC: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, United States. pp.488-493, ⟨10.1109/TEST.2003.1270874⟩, 2003
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Efficient Scan Chain Design for Power Minimization During Scan Testing Under Routing Constraint
    Bonhomme, Yannick ; Girard, Patrick ; et al.
    In: ITC: International Test Conference ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269529 ; ITC: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, United States. pp.488-493, ⟨10.1109/TEST.2003.1270874⟩, 2003
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Adiabatic capacitive logic: A paradigm for low-power logic
    Pillonnet, Gaël ; Fanet, H. ; et al.
    In: 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) ; https://hal.science/hal-01887199 ; 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), May 2017, Baltimore, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/ISCAS.2017.8050996⟩, 2017
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Adiabatic capacitive logic: A paradigm for low-power logic
    Pillonnet, Gaël ; Fanet, H. ; et al.
    In: 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) ; https://hal.science/hal-01887199 ; 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), May 2017, Baltimore, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/ISCAS.2017.8050996⟩, 2017
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Adiabatic capacitive logic: A paradigm for low-power logic
    Pillonnet, Gaël ; Fanet, H. ; et al.
    In: 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) ; https://hal.science/hal-01887199 ; 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), May 2017, Baltimore, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/ISCAS.2017.8050996⟩, 2017
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Adiabatic capacitive logic: A paradigm for low-power logic
    Pillonnet, Gaël ; Fanet, H. ; et al.
    In: 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887199 ; 2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), May 2017, Baltimore, United States. ⟨10.1109/ISCAS.2017.8050996⟩, 2017
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.science/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Special Session: Operating Systems under test: an overview of the significance of the operating system in the resiliency of the computing continuum
    Casseau, Emmanuel ; Dobias, Petr ; et al.
    In: VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03266808 ; VTS 2021 - 39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩, 2021
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    The SAMPIC Waveform and Time to Digital Converter
    Delagnes, E. ; Breton, D. ; et al.
    In: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2014 NSS/MIC), 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The SAMPIC Waveform and Time to Digital Converter
    Delagnes, E. ; Breton, D. ; et al.
    In: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2014 NSS/MIC), 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    The SAMPIC Waveform and Time to Digital Converter
    Delagnes, E. ; Breton, D. ; et al.
    In: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2014 NSS/MIC), 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The SAMPIC Waveform and Time to Digital Converter
    Delagnes, E. ; Breton, D. ; et al.
    In: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2014 NSS/MIC), 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    First-ever test and characterization of the AMS standard bulk 0.35 μm CMOS technology at sub-kelvin temperatures
    Rhouni, Amine ; Gevin, Olivier ; et al.
    In: 12th International Workshop on Low Temperature Electronics ; https://hal.science/hal-01519841 ; 12th International Workshop on Low Temperature Electronics , Sep 2016, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    First-ever test and characterization of the AMS standard bulk 0.35 μm CMOS technology at sub-kelvin temperatures
    Rhouni, Amine ; Gevin, Olivier ; et al.
    In: 12th International Workshop on Low Temperature Electronics ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01519841 ; 12th International Workshop on Low Temperature Electronics , Sep 2016, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    The SAMPIC Waveform and Time to Digital Converter
    Delagnes, E. ; Breton, D. ; et al.
    In: 2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (2014 NSS/MIC), 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -