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    Compensation du bruit de phase et évaluation des performances d'un émetteur-récepteur CMOS à 140 GHz
    Bello, Yaya ; Demmer, David ; et al.
    In: GRETSI 2023 - XXIXème Colloque Francophone de Traitement du Signal et des Images ; https://cea.hal.science/cea-04373589 ; GRETSI 2023 - XXIXème Colloque Francophone de Traitement du Signal et des Images, Aug 2023, Grenoble, France ; https://gretsi.fr/archives/colloque/2023, 2023
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An ultra-low power iterative clique-based neural network integrated in 65-nm CMOS
    Chollet, Paul ; Larras, Benoit ; et al.
    In: Proceedings NEWCAS 2017 : 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An ultra-low power iterative clique-based neural network integrated in 65-nm CMOS
    Chollet, Paul ; Larras, Benoit ; et al.
    In: Proceedings NEWCAS 2017 : 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An ultra-low power iterative clique-based neural network integrated in 65-nm CMOS
    Chollet, Paul ; Larras, Benoit ; et al.
    In: Proceedings NEWCAS 2017 : 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An ultra-low power iterative clique-based neural network integrated in 65-nm CMOS
    Chollet, Paul ; Larras, Benoît ; et al.
    In: Proceedings NEWCAS 2017 : 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dark Count rate measurement in Geiger mode and simulation of a photodiode array, with CMOS 0.35 technology and transistor quenching.
    Pellion, D ; Jradi, K ; et al.
    In: 7th international conference on New Developments in Photodetection ; https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01196632 ; 7th international conference on New Developments in Photodetection, Jun 2014, Tours, France, 2014
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CMOS photodetection system with variable-time synchronous detection
    Pittet, P. ; Lu, Guo-Neng ; et al.
    In: Optical Systems Design ; https://hal-univ-lyon1.archives-ouvertes.fr/hal-02000843 ; Optical Systems Design, Jun 2015, Saint Etienne, France. pp.162, ⟨10.1117/12.512487⟩, 2015
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Extraction of equivalent electrical models for damascene MIM capacitors in a standard 120~nm CMOS technology for ultra wide band applications
    Lemoigne, P. ; Arnould, Jean-Daniel ; et al.
    In: Extraction of equivalent electrical models for damascene MIM capacitors in a standard 120~nm CMOS technology for ultra wide band applications ; IEEE IECON Conference ; https://hal.science/hal-00147864 ; IEEE IECON Conference, 2006, PARIS, France. pp.XX, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Passive Components Integrated in CMOS High Resistivity SOI Technology: from RF up to 200 GHz
    Gianesello, F. ; Gloria, D. ; et al.
    In: Passive Components Integrated in CMOS High Resistivity SOI Technology: from RF up to 200 GHz ; Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits ; https://hal.science/hal-00147882 ; Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Passive Components Integrated in CMOS High Resistivity SOI Technology: from RF up to 200 GHz
    Gianesello, F. ; Gloria, D. ; et al.
    In: Passive Components Integrated in CMOS High Resistivity SOI Technology: from RF up to 200 GHz ; Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00147882 ; Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Extraction of equivalent electrical models for damascene MIM capacitors in a standard 120~nm CMOS technology for ultra wide band applications
    Lemoigne, P. ; Arnould, Jean-Daniel ; et al.
    In: Extraction of equivalent electrical models for damascene MIM capacitors in a standard 120~nm CMOS technology for ultra wide band applications ; IEEE IECON Conference ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00147864 ; IEEE IECON Conference, 2006, PARIS, France. pp.XX, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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