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    A CMOS Low Loss / High Linearity Passive Mixer for 2.45 GHz Low Power Applications
    Camus, Manuel ; Butaye, Benoit ; et al.
    In: Microwave Conference Proceedings (APMC), 2012 Asia-Pacific ; 2012 Asia Pacific Microwave Conference ; https://hal.science/hal-00783042 ; 2012 Asia Pacific Microwave Conference, Dec 2012, Kaohsiung, Taiwan. p1 - 3, ⟨10.1109/APMC.2012.6421533⟩, 2012
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS Low Loss / High Linearity Passive Mixer for 2.45 GHz Low Power Applications
    Camus, Manuel ; Butaye, Benoit ; et al.
    In: Microwave Conference Proceedings (APMC), 2012 Asia-Pacific ; 2012 Asia Pacific Microwave Conference ; https://hal.science/hal-00783042 ; 2012 Asia Pacific Microwave Conference, Dec 2012, Kaohsiung, Taiwan. p1 - 3, ⟨10.1109/APMC.2012.6421533⟩, 2012
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    A CMOS Low Loss / High Linearity Passive Mixer for 2.45 GHz Low Power Applications
    Camus, Manuel ; Butaye, Benoit ; et al.
    In: Microwave Conference Proceedings (APMC), 2012 Asia-Pacific ; 2012 Asia Pacific Microwave Conference ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00783042 ; 2012 Asia Pacific Microwave Conference, Dec 2012, Kaohsiung, Taiwan. p1 - 3, ⟨10.1109/APMC.2012.6421533⟩, 2012
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Decoding a family of dense codes using the sum-product algorithm and subthreshold PMOS
    Perez Chamorro, Jorge Ernesto ; Seguin, Fabrice ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Symposium on Circuits And Systems, Taiwan ; IEEE International Symposium on Circuits And Systems, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Decoding a family of dense codes using the sum-product algorithm and subthreshold PMOS
    Perez Chamorro, Jorge Ernesto ; Seguin, Fabrice ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Symposium on Circuits And Systems, Taiwan ; IEEE International Symposium on Circuits And Systems, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Decoding a family of dense codes using the sum-product algorithm and subthreshold PMOS
    Perez Chamorro, Jorge Ernesto ; Seguin, Fabrice ; et al.
    In: Proceedings IEEE International Symposium on Circuits And Systems, Taiwan ; IEEE International Symposium on Circuits And Systems, 2009
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Prediction of Aging Impact on Electromagnetic Susceptibility of an Operational Amplifier
    Huang, He ; Boyer, Alexandre ; et al.
    In: Asia-Pacific International EMC Symposium 2015 ; https://hal.science/hal-01159222 ; Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p, 2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Prediction of Aging Impact on Electromagnetic Susceptibility of an Operational Amplifier
    Huang, He ; Boyer, Alexandre ; et al.
    In: Asia-Pacific International EMC Symposium 2015 ; https://hal.science/hal-01159222 ; Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p, 2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Prediction of Aging Impact on Electromagnetic Susceptibility of an Operational Amplifier
    Huang, He ; Boyer, Alexandre ; et al.
    In: Asia-Pacific International EMC Symposium 2015 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01159222 ; Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p, 2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation Metric for Rate of Background Detection
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01434938, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Optimal Source Selection for Image Photoplethysmography
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01435077 ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2016, Taipei, Taiwan. pp.455-459 ; http://ieeexplore.ieee.org/document/7520406/, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimal Source Selection for Image Photoplethysmography
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01435077 ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2016, Taipei, Taiwan. pp.455-459 ; http://ieeexplore.ieee.org/document/7520406/, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation Metric for Rate of Background Detection
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01434938, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation Metric for Rate of Background Detection
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01434938, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimal Source Selection for Image Photoplethysmography
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01435077 ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2016, Taipei, Taiwan. pp.455-459 ; http://ieeexplore.ieee.org/document/7520406/, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation Metric for Rate of Background Detection
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01434938, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimal Source Selection for Image Photoplethysmography
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-01435077 ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2016, Taipei, Taiwan. pp.455-459 ; http://ieeexplore.ieee.org/document/7520406/, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Evaluation Metric for Rate of Background Detection
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01434938, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimal Source Selection for Image Photoplethysmography
    Abul Hassan, Mohamed ; Saeed, Malik Aamir ; et al.
    In: 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) ; https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01435077 ; IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2016, Taipei, Taiwan. pp.455-459 ; http://ieeexplore.ieee.org/document/7520406/, 2016
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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