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    Analysis of an Inverter-Based CMOS Envelope Detector
    Ou, Jack ; Maris Ferreira, Pietro ; et al.
    In: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems ; https://hal.science/hal-03799138 ; IEEE International Conference on Electronics, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of an Inverter-Based CMOS Envelope Detector
    Ou, Jack ; Maris Ferreira, Pietro ; et al.
    In: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems ; https://hal.science/hal-03799138 ; IEEE International Conference on Electronics, 2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of an Inverter-Based CMOS Envelope Detector
    Ou, Jack ; Maris Ferreira, Pietro ; et al.
    In: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems ; https://hal.science/hal-03799138 ; IEEE International Conference on Electronics, 2022
    Online Konferenz
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    Synchronous conditioning circuits for piezo-and triboelectric harvesters in CMOS technologieś
    Lefeuvre, Elie ; Galayko, Dimitri ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://hal.science/hal-03158528 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Synchronous conditioning circuits for piezo-and triboelectric harvesters in CMOS technologieś
    Lefeuvre, Elie ; Galayko, Dimitri ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://hal.science/hal-03158528 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Synchronous conditioning circuits for piezo-and triboelectric harvesters in CMOS technologieś
    Lefeuvre, Elie ; Galayko, Dimitri ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03158528 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Online Konferenz
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    Photon detection with CMOS sensors for fast imaging
    Baudot, J. ; Dulinski, W. ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment ; 8th International Conference on Position Sensitive Detectors ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00405323 ; 8th International Conference on Position Sensitive Detectors, Sep 2008, Glasgow, United Kingdom. pp.111-114, ⟨10.1016/j.nima.2009.01.066⟩, 2008
    Online Konferenz
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    Photon detection with CMOS sensors for fast imaging
    Baudot, J. ; Dulinski, W. ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment ; 8th International Conference on Position Sensitive Detectors ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00405323 ; 8th International Conference on Position Sensitive Detectors, Sep 2008, Glasgow, United Kingdom. pp.111-114, ⟨10.1016/j.nima.2009.01.066⟩, 2008
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Photon detection with CMOS sensors for fast imaging
    Baudot, J. ; Dulinski, W. ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment ; 8th International Conference on Position Sensitive Detectors ; http://hal.in2p3.fr/in2p3-00405323 ; 8th International Conference on Position Sensitive Detectors, Sep 2008, Glasgow, United Kingdom. pp.111-114, ⟨10.1016/j.nima.2009.01.066⟩, 2008
    Online Konferenz
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    Non-Invasive Highly Integrated Transformer Power Detector for Self-Healing PA in 130nm H9SOI-FEM CMOS Technology
    Moret, Boris ; Kerherve, Eric ; et al.
    In: 2016 11th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC) ; https://hal.science/hal-01618214 ; 2016 11th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), Oct 2016, Londres, United Kingdom, 2016
    Konferenz
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    Integrated Variability Measurements of 28 nm FDSOI MOSFETs down to 4.2 K for Cryogenic CMOS Applications
    Paz, Bruna Cardoso ; Guevel, Loick Le ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) ; https://hal.science/hal-02986756 ; 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), May 2020, Edinburgh, United Kingdom. ⟨10.1109/ICMTS48187.2020.9107906⟩, 2020
    Konferenz
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    A CMOS readout circuit for a low shunt resistance IR photo-detector
    Fatima, Saman ; Avignon-Meseldzija, Emilie ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-03326284 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
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    Pixel circuit design for an accumulation mode BDJ APS in a 0.18µm CMOS technology
    Azzem, Oussama Moudda ; Chouikha, Mohamed Ben ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-03326283 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
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    Integrated Variability Measurements of 28 nm FDSOI MOSFETs down to 4.2 K for Cryogenic CMOS Applications
    Paz, Bruna Cardoso ; Guevel, Loick Le ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) ; https://hal.science/hal-02986756 ; 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), May 2020, Edinburgh, United Kingdom. ⟨10.1109/ICMTS48187.2020.9107906⟩, 2020
    Konferenz
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    Pixel circuit design for an accumulation mode BDJ APS in a 0.18µm CMOS technology
    Azzem, Oussama Moudda ; Chouikha, Mohamed Ben ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-03326283 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A CMOS readout circuit for a low shunt resistance IR photo-detector
    Fatima, Saman ; Avignon-Meseldzija, Emilie ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-03326284 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
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    Integrated Variability Measurements of 28 nm FDSOI MOSFETs down to 4.2 K for Cryogenic CMOS Applications
    Paz, Bruna Cardoso ; Guevel, Loick Le ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) ; https://hal.science/hal-02986756 ; 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), May 2020, Edinburgh, United Kingdom. ⟨10.1109/ICMTS48187.2020.9107906⟩, 2020
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    A CMOS readout circuit for a low shunt resistance IR photo-detector
    Fatima, Saman ; Avignon-Meseldzija, Emilie ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-03326284 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Pixel circuit design for an accumulation mode BDJ APS in a 0.18µm CMOS technology
    Azzem, Oussama Moudda ; Chouikha, Mohamed Ben ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-03326283 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
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    Integrated Variability Measurements of 28 nm FDSOI MOSFETs down to 4.2 K for Cryogenic CMOS Applications
    Paz, Bruna Cardoso ; Guevel, Loick Le ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02986756 ; 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), May 2020, Edinburgh, United Kingdom. ⟨10.1109/ICMTS48187.2020.9107906⟩, 2020
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