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  1. Chollet, Paul ; Lahuec, Cyril ; et al.
    In: Proceedings EMBC 2017 : 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, 2017
    Konferenz
  2. Chollet, Paul ; Lahuec, Cyril ; et al.
    In: Proceedings EMBC 2017 : 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, 2017
    Konferenz
  3. Chollet, Paul ; Lahuec, Cyril ; et al.
    In: Proceedings EMBC 2017 : 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, 2017
    Konferenz
  4. Lapray, Pierre-Jean ; Heyrman, Barthélémy ; et al.
    In: Circuits and Systems (ISCAS), Proceedings of 2012 IEEE International Symposium on ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-00675805 ; Circuits and Systems (ISCAS), 2012
    Online Konferenz
  5. Lapray, Pierre-Jean ; Heyrman, Barthélémy ; et al.
    In: Circuits and Systems (ISCAS), Proceedings of 2012 IEEE International Symposium on ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-00675805 ; Circuits and Systems (ISCAS), 2012
    Online Konferenz
  6. Lapray, Pierre-Jean ; Heyrman, Barthélémy ; et al.
    In: Circuits and Systems (ISCAS), Proceedings of 2012 IEEE International Symposium on ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-00675805 ; Circuits and Systems (ISCAS), 2012
    Online Konferenz
  7. Lapray, Pierre-Jean ; Heyrman, Barthélémy ; et al.
    In: Circuits and Systems (ISCAS), Proceedings of 2012 IEEE International Symposium on ; https://u-bourgogne.hal.science/hal-00675805 ; Circuits and Systems (ISCAS), 2012
    Online Konferenz
  8. Lapray, Pierre-Jean ; Heyrman, Barthélémy ; et al.
    In: Circuits and Systems (ISCAS), Proceedings of 2012 IEEE International Symposium on ; https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-00675805 ; Circuits and Systems (ISCAS), 2012
    Online Konferenz
  9. Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; et al.
    In: Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2011 ; International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2011
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -