Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
371 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

Publikation

Sprache

371 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Design and simulation of an innovative CMOS ternary 3 to 1 multiplexer and the design of ternary half adder using ternary 3 to 1 multiplexer
    Mohd Ziauddin Jahangir ; Mounika, J.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 90 (2019-08-01), S. 82-87
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Contrast of latch-up induced by pulsed gamma rays in CMOS circuits after neutron irradiation and TID accumulation
    Yang, Shanchao ; Chen, Wei ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 98 (2019-07-01), S. 42-48
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A 68-nW novel CMOS sub-bandgap voltage reference circuit
    Wang, Zhen ; Lei, Jianming ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 89 (2019-07-01), S. 37-40
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Time of arrival measurement for indoor distance monitoring in 130-nm CMOS
    Banerjee, Gaurab ; Javed S Gaggatur
    In: Measurement, Jg. 146 (2019-11-01), S. 372-379
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Cascaded power management unit characterization for TEG-based IoT devices in 65 nm CMOS
    Sanduleanu, Mihai ; Alhawari, Mohammad ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 90 (2019-08-01), S. 285-296
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Determination of DC equivalent hot carrier stress times in scaled CMOS devices using novel AC stress methodology
    Kerber, Andreas ; Nigam, T.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 93 (2019-02-01), S. 98-101
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Development of Si-CMOS hybrid detectors towards electron tracking based Compton imaging in semiconductor detectors
    Takahashi, Tadayuki ; Yoneda, Hiroki ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, Jg. 912 (2018-12-01), S. 269-273
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Radiation-tolerance analysis of I-gate n-MOSFET according to isolation oxide module in the CMOS bulk process
    Cho, Seong-Ik ; Lee, Nam-Ho ; et al.
    In: Microelectronic Engineering, Jg. 200 (2018-11-01), S. 45-50
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Electrochemical biosensor system using a CMOS microelectrode array provides high spatially and temporally resolved images
    Tedjo, William ; Nejad, Jasmine E. ; et al.
    In: Biosensors and Bioelectronics, Jg. 114 (2018-08-01), S. 78-88
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Analysis of Total Ionizing Dose effects for highly scaled CMOS devices in Low Earth Orbit
    Frank Sill Torres ; Hanif, Muhammad ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, Jg. 428 (2018-08-01), S. 30-37
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A comparative study of lifetime reliability of planar MOSFET and FinFET due to BTI for the 16 nm CMOS technology node based on reaction-diffusion model
    Soin, Norhayati ; Mohamed Mounir Mahmoud
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 97 (2019-06-01), S. 53-65
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Smart power management with combined current-feedback low-dropout voltage regulator and switched capacitor DC-DC converter in 180 nm CMOS
    Wang, Jue ; Zeng, Zhuoqu ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 87 (2019-05-01), S. 121-126
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Total-ionization-dose characterization of a radiation-hardened mixed-signal microcontroller SoC in 180 nm CMOS technology for nanosatellites
    Li, Yang ; Liu, H. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 87 (2019-05-01), S. 65-72
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electronically reconfigurable two-path fractional-order PI/D controller employing constant phase blocks based on bilinear segments using CMOS modified current differencing unit
    Kledrowetz, Vilem ; Kartci, Aslihan ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 86 (2019-04-01), S. 114-129
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    1.15 GHz image rejection filter with 45 dB image rejection ratio and 8.4 mW DC power in 90 nm CMOS
    Chen, Zhiming ; Ding, Yingtao ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 84 (2019-02-01), S. 48-53
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design and application examples of CMOS fractional-order differentiators and integrators
    Minaei, Shahram ; Elwakil, Ahmed S. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 83 (2019), S. 155-167
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A 0.4-V 10-bit 10-KS/s SAR ADC in 0.18 μm CMOS for low energy wireless senor network chip
    Teng Teng Chen ; Jue Ping Cai ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 83 (2019), S. 104-116
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Analysis of 6 T SRAM cell in sub-45 nm CMOS and FinFET technologies
    Cleiton Magano Marques ; Almeida, Roberto B. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, 2018-09-01, S. 196-202
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Radiation hardness test and characterization of a low-noise front-end readout ASIC in 180 nm CMOS technology for space X-ray survey
    Gao, W. ; Yao, Yuan ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, Jg. 898 (2018-08-01), S. 117-124
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Statically triggered 3×VDD-Tolerant ESD detection circuit in a 90-nm low-voltage CMOS process
    Yu, Ningmei ; Liou, Juin J. ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 78 (2018-08-01), S. 88-93
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -