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    Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS
    Leroux, Paul ; Thys, Sam ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 913-920
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    Shunt Regulator for the Serial Powering of the ATLAS CMOS Pixel Detector Modules
    Barrillon, P. ; Pangaud, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-02-01), S. 455-463
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    Transistor Width Effect on the Power Supply Voltage Dependence of α-SER in CMOS 6T SRAM
    Alheyasat, A. ; Torrens, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-05-01), S. 811-817
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    An SRAM-Based Radiation Monitor With Dynamic Voltage Control in 0.18- <tex-math notation='LaTeX'>$\mu$ </tex-math> m CMOS Technology
    Leroux, Paul ; Prinzie, Jeffrey ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019), S. 282-289
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    Power-Aware SE Analysis of Different FF Designs at the 14-/16-nm Bulk FinFET CMOS Technology Node
    Massengill, Lloyd W. ; Jiang, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-08-01), S. 1866-1871
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    Radiation-Hardened CMOS Negative Voltage Reference for Aerospace Application
    Hu, Shengdong ; Lin, Zhi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-09-01), S. 2505-2510
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    Single-Event Performance of Sense-Amplifier Based Flip-Flop Design in a 16-nm Bulk FinFET CMOS Process
    Assis, T. R. ; Zhang, Hangfang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), S. 477-482
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    Temperature-Compensated MOS Dosimeter Fully Integrated in a High-Voltage 0.35 μm CMOS Process
    Lipovetzky, Jose ; Faigon, Adrian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-06-01), S. 1118-1124
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    Logic-I/O Threshold Comparing -Dosimeter in Radiation Insensitive Deep-Sub-Micron CMOS
    Mau-Chung Frank Chang ; Kim, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-04-01), S. 1247-1250
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    Total-Ionizing Dose Effects on Charge Transfer Efficiency and Image Lag in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Rizzolo, Serena ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 2018
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    Neutron Radiation Induced Soft Error Rates for an Adjacent-ECC Protected SRAM in 28 nm CMOS
    Neale, Adam ; Sachdev, Manoj
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-06-01), S. 1912-1917
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    Heavy Ion Characterization of Temporal-, Dual- and Triple Redundant Flip-Flops Across a Wide Supply Voltage Range in a 65 nm Bulk CMOS Process
    Hasanbegovic, Amir ; Aunet, Snorre
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-12-01), S. 2962-2970
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    Radiation and High-Voltage Tolerant Space CAN Driver in Standard Low-Voltage 3.3 V CMOS Technology
    Jansen, R. J. E. ; Furano, Gianluca ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 2017, S. 1-1
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    A Highly Reliable and Energy-Efficient Triple-Node-Upset-Tolerant Latch Design
    Chaudhry Indra Kumar ; Anand, Bulusu
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-10-01), S. 2196-2206
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    A $5.2~\mu \text{A}$ Quiescent Current LDO Regulator With High Stability and Wide Load Range for CZT Detectors
    Geng, Li ; Li, Haiqi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017-04-01), S. 1087-1094
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    Experimental Validation of Charge-Sensitive Amplifier Configuration that Compensates for Detector Capacitance
    Kwon, Inyong ; Hammig, Mark D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-04-01), S. 1202-1208
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    Studying the Variation Effects of Radiation Hardened Quatro SRAM Bit-Cell
    Kim, Jinsang ; Kang, Myounggon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-08-01), S. 2399-2401
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    [Untitled]
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science
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    Measurement and Mechanism Investigation of Negative and Positive Muon-Induced Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
    Abe, Shin-ichiro ; Hashimoto, Masanori ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-08-01), S. 1734-1741
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    Characterization of Single-Event Transients in Schmitt Trigger Inverter Chains Operating at Subthreshold Voltages
    Roach, Austin H. ; Gadfort, Peter ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), S. 637-642
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